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新型等離子體發(fā)射光譜儀

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公司名稱HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部
品牌
型號ACTIVA-M
所在地國外
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時間2024/1/17 12:48:06
訪問次數(shù)131

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新型等離子體發(fā)射光譜儀堀場

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公司介紹主營產(chǎn)品

HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部（HORIBA Scientific）隸屬 HORIBA 集團(tuán)，致力于為用戶提供*的檢測和分析儀器：包括元素分析、熒光、刑偵、ICP、粒度表征、激光拉曼光譜、橢圓偏振光譜、油中硫分析、水質(zhì)和XRF等分析儀器。

結(jié)合旗下的技術(shù)優(yōu)勢，包括擁有200多年發(fā)展歷史的光譜制造技術(shù)Jobin Yvon,以及擁有*技術(shù)優(yōu)勢的IBH, SPEX, Instruments S.A, ISA, Dilor, Sofie, SLM以及 Beta Scientific等。今天，HORIBA Scientific 的各種檢測分析儀器已經(jīng)遍布各地，并在中國實(shí)現(xiàn)了銷售和服務(wù)的本土化，位于上海、北京、廣州三地的產(chǎn)品專家、售后服務(wù)團(tuán)隊以及全國各地的代理商機(jī)構(gòu)可充分保障國內(nèi)用戶的技術(shù)咨詢以及售后服務(wù)需求。

展開顯示更多內(nèi)容

HORIBA歐洲總部自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司，完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家，其分支機(jī)構(gòu)遍布?，F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外，還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品，如：激光拉曼光譜儀（Raman），熒光（壽命）光譜儀（FL），直讀火花光譜儀（SPARK），電感耦合等離子發(fā)射光譜儀（ICP），輝光放電光譜儀（GDS），橢圓偏振光譜儀（Ellipsometry），特殊搭建系統(tǒng)（System）及各種光學(xué)光譜器件（成像光譜儀，光源，IR檢測器，CCD檢測器等）。目前，HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼（光譜儀）部、發(fā)射（光譜儀）部、熒光（光譜儀）部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障！

產(chǎn)品簡介在線詢價

ACTIVA-M新型等離子體發(fā)射光譜儀儀器簡介：ACTIVA–M 是基于“A platform for the future TM”（未來平臺）設(shè)計理念，使用高效率背照式 CCD 為檢測器的 ICP–AES 光譜儀。它保留了 HORIBA Jobin Yvon 光譜儀的一貫優(yōu)勢，又引入了*的 CCD（電荷耦合元件）技術(shù)，從而提高了儀器的質(zhì)量和靈活性。

新型等離子體發(fā)射光譜儀產(chǎn)品信息

ACTIVA-M新型等離子體發(fā)射光譜儀儀器簡介：

ACTIVA–M 是基于“A platform for the future TM”（未來平臺）設(shè)計理念，使用高效率背照式 CCD 為檢測器的 ICP–AES 光譜儀。它保留了 HORIBA Jobin Yvon 光譜儀的一貫優(yōu)勢，又引入了*的 CCD（電荷耦合元件）技術(shù)，從而提高了儀器的質(zhì)量和靈活性。

ACTIVA–M 對 ICP 分析工作者提供了一個*不同的 ICP 分析概念, 不同于時下的其他 CCD ICP, 多譜線分析需由人為判斷是否有光譜干擾及zui終人為選擇譜線及確認(rèn)分析結(jié)果, ACTIVA-M 提供了一個全自動化對譜線選擇及光譜干擾的判斷, 加上完整統(tǒng)計上的校正曲線自動判斷, 確保了zui后分析結(jié)果的可靠性. 本機(jī)使用超過 50,000 條 HJY 專屬的ICP 譜線資料庫 (S3-base, Single element Spectra, Spectroscopic data) 為分析譜線基準(zhǔn), 利用專屬的 IMAGE 全譜定性半定量系統(tǒng), 無需任何標(biāo)準(zhǔn)溶液, 對未知樣品進(jìn)行快速半定量分析, 獲得各元素的濃度范圍。將基體元素濃度及欲分析元素濃度輸入至 MASTER 軟件后, 不需進(jìn)行任何上機(jī)分析或 spectrum profiling, 即可快速由軟件多譜線視窗中看到所有譜線之光譜干擾及可采用的元素分析譜線, 并自動匯出建立完整的全定量分析方法。經(jīng)此全定量方法, 建立校正曲線, 并經(jīng)由 CALSTAT 對此工作曲線進(jìn)行統(tǒng)計學(xué)上的自動判斷, 以確保曲線的合理性并開始進(jìn)行樣品分析。然后經(jīng)由 SOS (Statistical Outlier Survey) 自動對多譜線分析結(jié)果進(jìn)行篩選, 以確保zui后分析結(jié)果的可靠性。

由于ACTIVA-M 擁有zui寬廣的光譜范圍及優(yōu)異的恒定光學(xué)分辨率, 加上創(chuàng)新的“完整”多譜線分析觀念, 使本機(jī)適合所有研發(fā)及質(zhì)管上各樣品種類的分析利器。

ACTIVA-M新型等離子體發(fā)射光譜儀技術(shù)參數(shù)：

波長范圍 : 120 – 800nm。
實(shí)際光學(xué)分辨率(實(shí)測譜線半峰寬) : ≤0.010nm (160-430nm), ≤0.018nm (430-800nm)。
光學(xué)系統(tǒng) : 恒溫設(shè)計, 0.64米焦距, 采用背對背雙面4343/2400 刻線/毫米離子刻蝕全息閃耀光柵, 低的散射光 (1×10-7), 僅使用一級光光譜分析。
檢測器 : 2048X512像素, 背照式CCD檢測器, 像素尺寸13.5x13.5 μm, -30℃下工作，在工作溫度下(-30℃) 無須吹掃高純度保護(hù)氣流, 滿阱容量100,000個電子, 1MHz頻率, 低讀出噪聲6 e- r.m.s., 暗電流小于0.025電子/象素/秒。
等離子體觀測方式 : 側(cè)向(徑向)關(guān)測, 炬管垂直放置。
發(fā)生器 : 固態(tài)式發(fā)生器, 頻率為40.68MHz, 頻率波動 ±1KHz, 功率 750W – 1550W, 功率波動 ±0.1%。
炬管 : 3mm 大口徑內(nèi)管, 采用*可拆卸式外/中/內(nèi)炬管設(shè)計。
進(jìn)樣系統(tǒng) : 恒溫, 旋流霧室配備玻璃霧化器 (標(biāo)準(zhǔn)配置), 可以直接進(jìn)樣高達(dá)30% 的高鹽溶液。
全譜系統(tǒng) : 可以采集全部光譜信息，進(jìn)行定性、半定量和定量分析, 并可作回溯性分析。
氣體消耗量 : 低的總氣體消耗(氬氣)量 ≤14L/分鐘。
短期穩(wěn)定性 : 連續(xù)測量11次，RSD≤1%。
*穩(wěn)定性 : 每10分鐘測量一次，連續(xù)測量4小時，RSD≤2%。

ACTIVA-M主要特點(diǎn)：

新型全自動Activa-M電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀, 采用專為科研性光譜學(xué)而設(shè)計的高性能傳感器, 為一超低噪聲CCD固態(tài)檢測器ICP光譜儀, 涵蓋zui寬廣的光譜分析范圍 (120 – 800nm), 適合于各類型分析應(yīng)用; 并包括Cl, Br, I 等真空紫外元素波長的分析, 對正常波長范圍內(nèi) (160 – 800nm) 的元素光譜干擾問題提供了一個全新波段免除光譜干擾的可能性。

高分辨率模式在120-430nm光區(qū)的光譜分辨率<10pm。高速模式在120-800nm光區(qū)的光譜分辨率<18pm。

檢測器具強(qiáng)大抗溢出功能, 好的實(shí)際動態(tài)范圍，達(dá)107，至少有5個數(shù)量級的線性響應(yīng)范圍。采用AIMO (Advanced Inverted Mode Operation), 低暗電流，具有大的阱容量 (象素電荷儲存量)。
采用高技術(shù)電子線路，內(nèi)含Rapid ChipTM組件。

采用好的垂直炬管徑向觀測與高亮度，高性能光學(xué)系統(tǒng)相結(jié)合，可以徑向觀測等離子體的整個正常分析區(qū)（不同類型的樣品分析不受限制）。

等離子體室空間大，炬管、霧室裝置為卡式結(jié)構(gòu)、拆卸、安裝便捷，無需任何調(diào)節(jié)。寬闊的樣品導(dǎo)入?yún)^(qū)，具有便利可向下折疊的抗腐蝕樣品托盤。

Smart Hood（智能化排風(fēng)裝置）保證等離子體區(qū)的排風(fēng)安全、方便，并降低了安裝成本。

的S3-base (Single-element Spectra, Spectroscopic data) ICP譜線數(shù)據(jù)庫有助于在120-800nm范圍內(nèi)選用*ICP譜線。

完整的全自動多譜線及可靠性分析概念, 使用功能強(qiáng)大的多譜線分析工具 IMAGE (full spectrum acquisition tool) & MASTER (Multi-line Analysis, Selection Tool for Enhanced Reliability) 加上統(tǒng)計學(xué)上的分析工具CALSTAT & SOS (Statistical Outlier Survey), 確保了zui后分析結(jié)果的可靠性。

功能強(qiáng)大的ACTIVAnalyst 軟件擴(kuò)展了以CCD為檢測器的AnalystTM ICP 軟件的功能, 具備多種選購件及供儀器升級用的部件。
本系統(tǒng)可于一個光譜視窗內(nèi)同時測量多波長及其背景，提供多元素的高效率分析。將相鄰的光譜視窗加合起來，系統(tǒng)即可覆蓋100% 的光譜范圍。