德國E+H導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)也常被稱為導(dǎo)波雷達(dá)料位計(jì)，是依據(jù)時(shí)域反射原理(TDR)為基礎(chǔ)的雷達(dá)料位計(jì)，E+H導(dǎo)波雷達(dá)料位計(jì)的電磁脈沖以光速沿鋼纜或探棒傳播，當(dāng)遇到被測介質(zhì)表面時(shí)，導(dǎo)波雷達(dá)料位計(jì)的部分脈沖被反射形成回波并沿相同路經(jīng)返回到脈沖發(fā)射裝置。我公司所有的產(chǎn)品直接從境外進(jìn)貨，能夠提供不同國別、廠商的設(shè)備配件，解決您多處尋找的麻煩和對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的擔(dān)心等,在價(jià)格上我們有很大的優(yōu)勢，咨詢！

德國E+H導(dǎo)波雷達(dá)物位儀FMP50為經(jīng)濟(jì)型測量儀表，用于供應(yīng)和存儲(chǔ)過程以及公用工程測量范圍zui大12m（39 ft）過程連接采用 3/4"螺紋或適配法蘭；溫度范圍: -20～+80℃（-4～+176°F）；壓力范圍:-1～6bar（-14.5～87 psi）；具有下列系統(tǒng)集成通信接口:4 - 20 mA HART模擬接口；PROFIBUS PA接口。用于物位監(jiān)測時(shí)，符合SIL2要求，由TüV進(jìn)行獨(dú)立評(píng)估，符合IEC 61508標(biāo)準(zhǔn)。

E+H導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)是依據(jù)時(shí)域反射原理(TDR)為基礎(chǔ)的雷達(dá)物位計(jì)，電磁脈沖以光速沿鋼纜或探棒傳播，當(dāng)遇到被測介質(zhì)表面時(shí)，部分脈沖被反射形成回波并沿相同路徑返回到脈沖發(fā)射裝置，發(fā)射裝置與被測介質(zhì)表面的距離同脈沖在其間的傳播時(shí)間成正比，經(jīng)計(jì)算得出液位高度。

E+H 導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)FMP50的優(yōu)點(diǎn)：對(duì)變化中的介質(zhì)進(jìn)行可靠測量；實(shí)用性強(qiáng)；內(nèi)置數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器；工廠預(yù)標(biāo)定；直觀的菜單引導(dǎo)式操作，多種語言可選；便于集成到控制或資產(chǎn)管理系統(tǒng)中；精確的測量和過程診斷，便于快速?zèng)Q策；認(rèn)證: ATEX, IEC Ex, FM, CSA。

FMP50 - 經(jīng)濟(jì)型測量儀表，用于供應(yīng)和存儲(chǔ)過程以及公用工程. 
測量范圍zui大12 m (39 ft) 
過程連接采用 3/4"螺紋或適配法蘭 
溫度范圍: -20～+80 °C (-4 ～ +176 °F) 
壓力范圍: -1 ～6 bar (-14.5～87 psi) 
具有下列系統(tǒng)集成通信接口:
- 4 - 20 mA HART模擬接口
- PROFIBUS PA接口
用于物位監(jiān)測時(shí)，符合SIL2要求，由TüV進(jìn)行獨(dú)立評(píng)估，符合IEC 61508標(biāo)準(zhǔn) 

E+H導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)的測量原理

導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)

　　導(dǎo)波雷達(dá)是基于時(shí)間行程原理的測量儀表，雷達(dá)波以光速運(yùn)行，運(yùn)行時(shí)間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號(hào)。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜繩傳播，當(dāng)脈沖遇到物料表面時(shí)反射回來被儀表內(nèi)的接收器接收，并將距離信號(hào)轉(zhuǎn)化為物位信號(hào)。

　　

E+H導(dǎo)波雷達(dá)物位儀，E+H基本型導(dǎo)波雷達(dá)物位儀，E+H物位儀FMP50的選型說明：

 

E+H導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)也常被稱為導(dǎo)波雷達(dá)料位計(jì)，是依據(jù)時(shí)域反射原理(TDR)為基礎(chǔ)的雷達(dá)料位計(jì)，導(dǎo)波雷達(dá)料位計(jì)的電磁脈沖以光速沿鋼纜或探棒傳播，當(dāng)遇到被測介質(zhì)表面時(shí)，導(dǎo)波雷達(dá)料位計(jì)的部分脈沖被反射形成回波并沿相同路經(jīng)返回到脈沖發(fā)射裝置，導(dǎo)波雷達(dá)料位計(jì)的發(fā)射裝置與被測介質(zhì)表面的距離同脈沖在其間的傳播時(shí)間成正比，回波的極性和振幅取決于上層介質(zhì)與下層介質(zhì)的介電常數(shù)εr。