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CETC(中電科) AV6362C 近紅外光譜儀

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更新時間：2023-05-28 17:15:50瀏覽次數(shù)：344次

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產(chǎn)品簡介

CETC(中電科)AV6362C近紅外光譜儀AV6362C近紅外光譜儀采用*的雙通光柵分光單元、高分辨率衍射光柵定位、光學(xué)楔形延遲消偏振、小信號和寬波段光譜檢測等技術(shù)研制而成

詳細(xì)介紹

CETC(中電科) AV6362C 近紅外光譜儀

AV6362C近紅外光譜儀采用*的雙通光柵分光單元、高分辨率衍射光柵定位、光學(xué)楔形延遲消偏振、小信號和寬波段光譜檢測等技術(shù)研制而成。整機性能指標(biāo)達(dá)到國際同類產(chǎn)品*水平。適用于600～1700nm波段范圍的LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光纖、光纖光柵、光學(xué)濾波器、光纖放大器、波分復(fù)用器等光電子元器件及有關(guān)系統(tǒng)的測試。

功能特點

主要特點

● 0.05nm最小分辨帶寬

● -90 dBm電平測量靈敏度

● ndB損耗分析

● 包絡(luò)分析

● 測試數(shù)據(jù)存儲輸出

● 激光光源測試

● 光學(xué)濾波器測試

0.05nm最小分辨帶寬

AV6362C近紅外光譜儀支持不同光譜分辨帶寬的設(shè)置，寬譜光源與窄譜線光源測試靈活切換。并且最小分辨帶寬可達(dá)0.05nm。

-90 dBm電平測量靈敏度

通過低噪聲放大、雜散光抑制、數(shù)字濾波等技術(shù)，極大地降低了儀器噪聲，提高了信噪比，電平測量靈敏度在1250nm～1600nm波段優(yōu)于－90dBm。

ndB損耗分析

產(chǎn)品具有強大的分析功能，快速分析光譜參數(shù)，儀器自身就能完成復(fù)雜的計算。分析功能包括波峰檢索、閾值分析、損耗分析、邊模分析、包絡(luò)分析、均方根和光功率分析等，滿足您的全部需求。

包絡(luò)分析

測試數(shù)據(jù)存儲輸出

光譜測試數(shù)據(jù)可用.bmp或.osd格式文件存儲和輸出。

激光光源測試

儀器可以對多類型激光器進(jìn)行一鍵測試與分析，實現(xiàn)所有測試項目批處理。

光學(xué)濾波器測試

除了半導(dǎo)體激光光源（DFB-LD、FP-LD、LED）光譜測量應(yīng)用外，儀器還集成了光纖偏振模色散測量應(yīng)用、波分復(fù)用應(yīng)用、光纖放大器應(yīng)用、LD模塊應(yīng)用、波分復(fù)用濾波器應(yīng)用、波分復(fù)用光纖放大器應(yīng)用等光譜應(yīng)用功能。