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藍(lán)寶石缺陷觀測(cè)激光筆和偏光鏡:LP-100
產(chǎn)品特點(diǎn):■操作非常簡(jiǎn)單■攜帶非常簡(jiǎn)便■可以針對(duì)多種缺陷:氣泡和夾雜物/晶體亞晶粒/裂縫/次表面特征件等等■價(jià)格低壽命長(zhǎng)缺陷簡(jiǎn)單分析:1.激光筆和強(qiáng)光手電:■光...藍(lán)寶石表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng):SQM-500W
產(chǎn)品介紹:SQM-500W表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)用于對(duì)樣品表面清潔質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè)與分析藍(lán)寶石3D測(cè)量顯微鏡:HS-WDI-2000
產(chǎn)品介紹:北京合能陽(yáng)光新能源技術(shù)有限公司成功地設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)出高性能HS-WDI-2000型高級(jí)數(shù)碼正置金相顯微鏡藍(lán)寶石及碳化硅晶片平坦度及表面形態(tài)測(cè)試儀:FM-200
產(chǎn)品介紹:藍(lán)寶石及碳化硅晶片平坦度及表面形態(tài)測(cè)試儀為精密部件的制造商提供了業(yè)界的表面形態(tài)測(cè)量半自動(dòng)無(wú)接觸硅片測(cè)試儀:HS-NCS-200SA
半自動(dòng)無(wú)接觸硅片測(cè)試儀(HS-NCS-200SA型)可以測(cè)量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度、翹曲度、單點(diǎn)和總體平整度,該儀器適用于Si,GaAs,InP,G...無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀:TRM-100
無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀TRM-100是基于渦流(EddyCurrent)測(cè)試技術(shù),能夠?qū)枇?、硅棒、硅錠及硅片進(jìn)行無(wú)接觸、無(wú)損傷的體電阻率測(cè)試請(qǐng)輸入賬號(hào)
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