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HS-phys-SimPLe半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測(cè)系統(tǒng)
HS-phys-SimPLe半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測(cè)系統(tǒng)產(chǎn)品介紹HS-phys-SimPLe半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是專(zhuān)門(mén)用于包括單晶硅、碳化硅、藍(lán)寶石等半導(dǎo)體...HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測(cè)系統(tǒng)
HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測(cè)系統(tǒng)產(chǎn)品介紹HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測(cè)系統(tǒng)專(zhuān)門(mén)用于包括硅材料等半導(dǎo)體晶圓及晶環(huán)生產(chǎn)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)晶圓內(nèi)部的機(jī)械隱裂等肉...HS-NIR-SiRod單晶硅芯長(zhǎng)棒紅外探傷測(cè)試儀
HS-NIR-SiRod單晶硅芯長(zhǎng)棒紅外探傷測(cè)試儀產(chǎn)品介紹HS-NIR-SiRod單晶硅芯長(zhǎng)棒紅外探傷測(cè)試儀是專(zhuān)門(mén)用于硅芯硅棒生產(chǎn)中的硅棒硅芯內(nèi)部的的裂縫、雜質(zhì)...PL光致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng):NIR-PLuS-B
產(chǎn)品介紹:NIR-PLUS/B檢測(cè)系統(tǒng)是一款光伏檢測(cè)的綜合分析系統(tǒng),既采用紅外技術(shù)對(duì)裂紋,孔洞,微結(jié)晶,雜質(zhì)和其他硬質(zhì)點(diǎn)等進(jìn)行檢測(cè),又使用PL(光致發(fā)光)技術(shù)對(duì)...太陽(yáng)能電池和組件在線檢測(cè)系統(tǒng):PV-LIT
產(chǎn)品介紹:PV-LIT太陽(yáng)能電池和組件在線檢測(cè)系統(tǒng)可對(duì)太陽(yáng)能電池及完整的太陽(yáng)能組件的各種缺陷進(jìn)行全自動(dòng)檢測(cè)太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試儀:PH-IQE200
產(chǎn)品介紹:PH-IQE200為太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)測(cè)試,或稱(chēng)量子效率QE(QuantumEfficiency)測(cè)試,或光電轉(zhuǎn)化效率IPCE(Monohromati...太陽(yáng)能電池I-V特性分析系統(tǒng):PET-CC
產(chǎn)品介紹:太陽(yáng)能光伏電池的所有性能表征手段中,IV特性測(cè)試無(wú)疑是最直觀、效、最被廣泛應(yīng)用的一種方法請(qǐng)輸入賬號(hào)
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