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北京合能陽(yáng)光新能源技術(shù)有限公司

  • HS-phys-SimPLe半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

    HS-phys-SimPLe半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測(cè)系統(tǒng)產(chǎn)品介紹HS-phys-SimPLe半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是專(zhuān)門(mén)用于包括單晶硅、碳化硅、藍(lán)寶石等半導(dǎo)體...
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2023/2/27 8:28:25 對(duì)比
  • HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測(cè)系統(tǒng)

    HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測(cè)系統(tǒng)產(chǎn)品介紹HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測(cè)系統(tǒng)專(zhuān)門(mén)用于包括硅材料等半導(dǎo)體晶圓及晶環(huán)生產(chǎn)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)晶圓內(nèi)部的機(jī)械隱裂等肉...
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2023/2/27 8:26:38 對(duì)比
  • HS-NIR-SiRod單晶硅芯長(zhǎng)棒紅外探傷測(cè)試儀

    HS-NIR-SiRod單晶硅芯長(zhǎng)棒紅外探傷測(cè)試儀產(chǎn)品介紹HS-NIR-SiRod單晶硅芯長(zhǎng)棒紅外探傷測(cè)試儀是專(zhuān)門(mén)用于硅芯硅棒生產(chǎn)中的硅棒硅芯內(nèi)部的的裂縫、雜質(zhì)...
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2023/2/27 8:24:41 對(duì)比
  • PL光致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng):NIR-PLuS-B

    產(chǎn)品介紹:NIR-PLUS/B檢測(cè)系統(tǒng)是一款光伏檢測(cè)的綜合分析系統(tǒng),既采用紅外技術(shù)對(duì)裂紋,孔洞,微結(jié)晶,雜質(zhì)和其他硬質(zhì)點(diǎn)等進(jìn)行檢測(cè),又使用PL(光致發(fā)光)技術(shù)對(duì)...
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/13 11:08:53 對(duì)比
  • 太陽(yáng)能電池和組件在線檢測(cè)系統(tǒng):PV-LIT

    產(chǎn)品介紹:PV-LIT太陽(yáng)能電池和組件在線檢測(cè)系統(tǒng)可對(duì)太陽(yáng)能電池及完整的太陽(yáng)能組件的各種缺陷進(jìn)行全自動(dòng)檢測(cè)
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/13 11:07:12 對(duì)比
  • 太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試儀:PVE300

    產(chǎn)品介紹:我公司銷(xiāo)售的PVE300是基于Bentham公司專(zhuān)業(yè)的技術(shù)及25年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn),PVE300能夠快速并準(zhǔn)確的給出分析數(shù)據(jù),是經(jīng)過(guò)市場(chǎng)檢驗(yàn)的被廣泛應(yīng)用的的...
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/13 11:05:57 對(duì)比
  • 太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試儀:PH-IQE200

    產(chǎn)品介紹:PH-IQE200為太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)測(cè)試,或稱(chēng)量子效率QE(QuantumEfficiency)測(cè)試,或光電轉(zhuǎn)化效率IPCE(Monohromati...
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/13 11:04:37 對(duì)比
  • AA*太陽(yáng)能模擬器:SS50AAA-PLC

    產(chǎn)品介紹:美國(guó)進(jìn)口SS50AAA-PLC太陽(yáng)模擬器是當(dāng)今高等級(jí)的太陽(yáng)能模擬器,的用來(lái)模擬太陽(yáng)輻照度和頻譜的設(shè)備
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/12 11:55:32 對(duì)比
  • 太陽(yáng)能電池I-V特性分析系統(tǒng):PET-CC

    產(chǎn)品介紹:太陽(yáng)能光伏電池的所有性能表征手段中,IV特性測(cè)試無(wú)疑是最直觀、效、最被廣泛應(yīng)用的一種方法
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/12 11:53:25 對(duì)比
  • 激光橢偏儀:PH-LE

    多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專(zhuān)門(mén)針對(duì)晶硅太陽(yáng)能電池絨面上的減反膜測(cè)量,能夠測(cè)量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù),使用632.8nm波長(zhǎng)氦氖激光器,具有*的精確度和準(zhǔn)確度
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/12 11:51:29 對(duì)比
  • 光譜橢偏儀:PH-SE

    光譜橢偏儀(PH-SE型)針對(duì)太陽(yáng)能電池應(yīng)用,可測(cè)量多晶硅/單晶硅絨面表面單層(二層或多層)減反射膜、和玻璃/有機(jī)基底上的薄膜太陽(yáng)能電池
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/12 11:49:44 對(duì)比
  • 款無(wú)接觸少子壽命掃描儀:MWR-2S-3I

    產(chǎn)品介紹:MWR-2S-3I是一款功能異常強(qiáng)大的無(wú)接觸少子壽命掃描測(cè)試儀,能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無(wú)接觸、無(wú)損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/12 11:47:49 對(duì)比
  • 全自動(dòng)光譜橢偏儀:PH-ASE

    全自動(dòng)光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來(lái),樣品對(duì)準(zhǔn)是為了保證橢偏儀測(cè)量的可重復(fù)性和精確性
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/12 11:46:35 對(duì)比
  • 電阻率型號(hào)綜合測(cè)試儀:HS-PSRT

    電阻率型號(hào)綜合測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多功能綜合測(cè)試裝置,它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率,適用于半導(dǎo)體及太陽(yáng)能行業(yè)的硅料,硅棒硅塊硅片的電...
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/12 11:44:52 對(duì)比
  • 硅料檢測(cè)分選儀:HS-3FCII

    產(chǎn)品介紹:合能陽(yáng)光硅料檢測(cè)分選儀(HS-3FCII),可以快速準(zhǔn)確檢測(cè)硅料的P/N型號(hào)、重?fù)?、電阻率和電?
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/12 11:43:27 對(duì)比
  • 紅外探傷儀:NIR-01

    紅外探傷測(cè)試儀是專(zhuān)門(mén)用于多晶硅片生產(chǎn)中的硅塊硅棒硅片的裂縫、雜質(zhì)、黑點(diǎn)、陰影、微晶等缺陷探傷的儀器
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/12 11:42:04 對(duì)比
  • 少子壽命測(cè)試儀:HS-CLT

    合能陽(yáng)光少子壽命測(cè)試儀(HS-CLT),是一款功能強(qiáng)大的少子壽命測(cè)試儀,不僅適用于硅片少子壽命的測(cè)量,更適用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅...
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/12 11:40:35 對(duì)比
  • 無(wú)接觸少子壽命掃描儀:MWR-2S-3

    合能陽(yáng)光無(wú)接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S-3)功能強(qiáng)大,能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無(wú)接觸、無(wú)損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試,其通過(guò)微波光電...
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/12 11:39:21 對(duì)比
  • 硅料分選重?fù)借嚕篐S-MRTT

    產(chǎn)品介紹:硅料分選重?fù)借?,用于檢測(cè)硅材料的輕重?fù)剑m用于小碎料、米粒料和各種細(xì)小廢料
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/12 11:37:45 對(duì)比
  • 硅料分選重?fù)焦P:HS-MPRT

    產(chǎn)品介紹:硅料分選重?fù)焦P(HS-MRPT),用于檢測(cè)硅材料電阻率及材料的輕重?fù)?,適用于硅材料采購(gòu)
    型號(hào): 所在地: 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/12 11:36:21 對(duì)比

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