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北京中海遠(yuǎn)創(chuàng)材料科技有限公司
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更新時(shí)間：2022-10-14 15:41:02瀏覽次數(shù)：215次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線產(chǎn)品描述常溫SEM原位納米壓痕儀——NanoFlip納米壓痕儀提供高精度XYZ位移，可定位樣品進(jìn)行測(cè)試，還提供翻轉(zhuǎn)機(jī)制，可定位樣品進(jìn)行成像
常溫SEM原位納米壓痕儀——NanoFlip納米壓痕儀提供高精度XYZ位移，可定位樣品進(jìn)行測(cè)試，還提供翻轉(zhuǎn)機(jī)制，可定位樣品進(jìn)行成像。InView軟件附帶一套測(cè)試方法，涵蓋一系列測(cè)試協(xié)議，并允許用戶創(chuàng)建自己的新穎測(cè)試方法。InForce50驅(qū)動(dòng)器在真空和常壓條件下表現(xiàn)同樣出色。InView軟件可以記錄SEM或其他顯微鏡圖像，并與機(jī)械測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步。創(chuàng)新的FIB-to-Test技術(shù)允許樣品傾斜90°，無(wú)需移除樣品即可實(shí)現(xiàn)從FIB到壓痕測(cè)試的無(wú)縫過渡。
· InForce 50驅(qū)動(dòng)器，用于電容位移測(cè)量，并配有電磁啟動(dòng)的可互換探頭
· InQuest高速控制器電子設(shè)備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時(shí)間常數(shù)
· 用于樣本定位的XYZ移動(dòng)系統(tǒng)
· SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步
· 的軟件集成壓頭校準(zhǔn)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)快速，準(zhǔn)確的壓頭校準(zhǔn)
· 與Windows®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)的方法開發(fā)功能
· 硬度和模量測(cè)量（Oliver-Pharr）
· 連續(xù)剛度測(cè)量
· 高速材料性質(zhì)分布圖
· ISO 14577硬度測(cè)試
· 聚合物的納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析（DMA）
· 定量刮擦和磨損測(cè)試
· 大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所
· 支柱和微球制造
· MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）
· 材料制造（結(jié)構(gòu)壓縮/斷裂測(cè)試）
· 電池和元件制造
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