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納米壓痕儀測(cè)試

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更新時(shí)間：2022-09-29 13:42:14瀏覽次數(shù)：354次

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武漢鑠思百檢測(cè)技術(shù)有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

儀器名稱(chēng)：納米壓痕儀型號(hào)：KeysightG200檢測(cè)項(xiàng)目：壓痕、劃痕、壓痕形貌掃描應(yīng)用范圍：壓痕/劃痕測(cè)試儀的基本功能是對(duì)材料的硬度、彈性模量、斷裂韌性、蠕變、摩擦、磨損性能等進(jìn)行測(cè)定，涉及的材料幾乎涵蓋所有的材料研究領(lǐng)域，包括薄膜和納米材料1.測(cè)量各種薄膜材料包括離子注入材料，化學(xué)鍍，氣相沉積，多層膜等材料的硬度和彈性模量

詳細(xì)介紹

儀器名稱(chēng)：納米壓痕儀

型號(hào)：Keysight G200

檢測(cè)項(xiàng)目：壓痕、劃痕、壓痕形貌掃描

應(yīng)用范圍：

壓痕/劃痕測(cè)試儀的基本功能是對(duì)材料的硬度、彈性模量、斷裂韌性、蠕變、摩擦、磨損性能等進(jìn)行測(cè)定，涉及的材料幾乎涵蓋所有的材料研究領(lǐng)域，包括薄膜和納米材料

1.測(cè)量各種薄膜材料包括離子注入材料，化學(xué)鍍，氣相沉積，多層膜等材料的硬度和彈性模量；

2.測(cè)量多相金屬材料，復(fù)合材料中某一相的硬度和彈性模量及界面區(qū)域的硬度分布。

制樣要求：

試樣建議

(1) 類(lèi)型I – 薄片：水平尺寸5mm×5mm~20mm×20mm，厚度0.5mm~6mm。

(2) 類(lèi)型II – 圓柱：直徑Φ31mm，厚度20mm~25mm，通常為鑲樣。

(3) 表面質(zhì)量：待測(cè)表面為光滑表面(Ra<10nm)或超光滑表面(Ra<1nm)。

(4)被測(cè)表面硬度超過(guò)20Gpa或磨損實(shí)驗(yàn)請(qǐng)自備壓針（2.4萬(wàn)/支）。

1.試樣厚度至少大于壓入深度h的10倍以上，壓入深度h至少是粗糙度Ra的20倍；壓入深度小于100nm數(shù)據(jù)可靠度不高；

2.樣品表面平整，不得有油污、顆粒物等污染物；

3.對(duì)于表面比較粗糙的樣品，測(cè)試結(jié)果會(huì)比較離散，建議測(cè)試點(diǎn)數(shù)不低于10個(gè)；

4.上下表面平行拋光，直徑不超過(guò)30mm，高度不超過(guò)20mm，如果高度超過(guò)10mm，直徑需保證是30mm左右，如果直徑小于10mm，那么高度建議5mm以下，利于樣品測(cè)試過(guò)程中的穩(wěn)固；如果是鑲的樣品，務(wù)必加工成直徑30mm，要不然容易打偏；

關(guān)鍵詞：納米壓痕儀水平尺

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