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科學(xué)與研究

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更新時間：2023-08-10 16:19:15瀏覽次數(shù)：116次

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產(chǎn)品分類 品牌分類

  電子電器

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蘇州華碧微科檢測技術(shù)有限公司

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產(chǎn)品簡介

華碧實驗室在電子元器件、微電子技術(shù)的質(zhì)量與失效分析方面完成了大量科研任務(wù)，為提供行業(yè)的技術(shù)服務(wù)積累了厚實的技術(shù)基礎(chǔ)

詳細(xì)介紹

　　華碧實驗室在電子元器件、微電子技術(shù)的質(zhì)量與失效分析方面完成了大量科研任務(wù)，為提供行業(yè)的技術(shù)服務(wù)積累了厚實的技術(shù)基礎(chǔ)。近些年來，隨著企業(yè)對電子產(chǎn)品壽命評估、工藝質(zhì)量改進(jìn)、產(chǎn)品可靠性增長，為企業(yè)提供相關(guān)科研技術(shù)支撐和實際問題解決方案。

科研對象 Research Objects

大規(guī)模集成電路
線路板及線路板組件
混合集成電路及多芯片組件
光電器件
微波器件及組件
阻容元器件、繼電器、連接器
RoHS及有害物質(zhì)控制管理系統(tǒng)

Integrated Circuit
PCB & PCBA
Hybrid Integrated Circuit
Photoelectron Device
Microwave Device
Resistor, Capacitance, Relay, Connector
RoHS & Pollution Administration system

研究領(lǐng)域與方向 Research Areas

可靠性物理
失效模式、失效機(jī)理及其數(shù)理模型
可靠性設(shè)計與仿真技術(shù)
ESD設(shè)計
熱設(shè)計有限元仿真
生產(chǎn)過程質(zhì)量控制技術(shù)
SPC、Cpk、PPM、6σ、QCC
失效分析與材料分析技術(shù)
FIB、EB、SEM及其分析技術(shù)
可靠性測試、評價、試驗技術(shù)
*電子封裝/組裝互連可靠性
高加速應(yīng)力試驗方法，極限應(yīng)力試驗方法
電子產(chǎn)品壽命評價
可靠性增長技術(shù)
基于失效物理（PoF）的可靠性增長方案

Reliability Physics
Failure Mode & Failure Mechanism
Reliability Design and Simulation
ESD Design
FEA
Process Control
TCPI
Failure Analysis and Material Analysis
FIB、EB、SEM
Reliability Test, Evaluation
Reliability of Solder Joint for Assembly & package
HAST
Life Prediction
Reliability Growth
PoF Reliability Growth

科研成果 Achievements

RoHS及有害物質(zhì)控制管理系統(tǒng)
強(qiáng)大的可靠性數(shù)據(jù)庫
專業(yè)試驗設(shè)備研制

RoHS & Pollution Administration system
Reliability Datebase
Equipment Development

關(guān)鍵詞：電子元器件芯片繼電器

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