COMPACT EcoX射線熒光光譜儀用于合金分析和鑒定

一、功能

1、采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

2、鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

3、鍍層層數(shù)：多至5層。

4、測量點(diǎn)尺寸：圓形測量點(diǎn)，直徑約0.6毫米。

5、測量時(shí)間：通常30秒。

6、樣品尺寸：380mm長×340mm寬×250mm高。

7、測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

8、可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。

二、特點(diǎn)和數(shù)據(jù)

1、采用基本參數(shù)法校準(zhǔn)，可在無薄膜標(biāo)樣情況下生成校準(zhǔn)曲線以完成測量。

2、X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面高低不一的樣品也可以正確測量。反之，如果是從下至上的照射方式，遇到表面凹凸的樣品，無法調(diào)整Z軸距離，導(dǎo)致測量光程的變化，引起測量的誤差。例如（舉例不同距離導(dǎo)致的誤差數(shù)據(jù)）。

3、開放的校準(zhǔn)模式，用戶可自行建立校準(zhǔn)曲線不受儀器廠家限制。

4、提供符合NIST美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)協(xié)會要求，A2LA美國實(shí)驗(yàn)室協(xié)會認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)樣品，可驗(yàn)證測量結(jié)果并讓實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)具有可追溯性。

5、Windows 7操作系統(tǒng)，數(shù)據(jù)可存儲，轉(zhuǎn)移，并可一鍵生成包含測量數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值、樣品圖片和趨勢圖等要素的報(bào)告（word格式）。