Cube系列技術(shù)參數(shù)

一、技術(shù)參數(shù)

采用X射線熒光光譜法無損測(cè)量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測(cè)量方法滿足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）

1. 鍍層元素范圍：鈦Ti～鈾U

包含常見的金Au、鎳Ni、銅Cu、銀Ag、錫Sn、鋅Zn、鉻Cr、鈀Pd等

2. 測(cè)量方式：由上而下

3. 探 測(cè) 器：高分辨空氣正比計(jì)數(shù)器（選配：Si-Pin，SDD)

4. X射線裝置：W靶

5. 電 壓：50kV（1.2mA）

6. 放 大倍數(shù)：光學(xué)40X,彩色CCD，手動(dòng)變焦。

7. 準(zhǔn) 直 器：標(biāo)配0.3mm，可選配0.5mm或4位多準(zhǔn)直器

8. 鍍層層數(shù)：多至5層（四層鍍層、一層底材）

9. 操作平臺(tái)：標(biāo)配：手動(dòng)/自動(dòng)（選配）

10. 測(cè)量點(diǎn)尺寸：圓形測(cè)量點(diǎn)，直徑約0.2-0.8毫米

11. 測(cè)量時(shí)間：通常35秒-180秒

12. 樣品尺寸：330 x 200 x 170 mm (長(zhǎng)x寬x高)

13. 儀器外觀尺寸：350 x 450 x 310 mm (長(zhǎng)x寬x高)

14. 測(cè)量誤差：通常≤5%，視樣品具體情況而定。

15. 可測(cè)厚度范圍：通常0.0001um到30um，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。

16. 同時(shí)定量測(cè)量8個(gè)元素

17. 定性鑒定材料達(dá)20個(gè)元素

18. 工 作 電 壓：230V, 50/60Hz，120W

19. 重 量：27kg

20、自動(dòng)測(cè)量功能：編程測(cè)量，自定測(cè)量；

修正測(cè)量功能：底材修正，已知樣品修正
定性分析功能：光譜表示，光譜比較；

定量分析功能：合金成份分析
數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖。

二、特點(diǎn)

1. 采用基本參數(shù)法校準(zhǔn)，可在無標(biāo)樣情況下生成校準(zhǔn)曲線以完成測(cè)量。

2. X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面高低不一的樣品也可以正確測(cè)量。反之，如果是從下至上的照射方式，遇到表面凹凸的樣品，無法調(diào)整Z軸距離，導(dǎo)致測(cè)量光程的變化，引起測(cè)量的誤差。

3. 具有多種測(cè)試功能，僅需要一臺(tái)儀器，即可解決多種測(cè)試

4. 相比其他分析設(shè)備，投入成本低

5. 儀器操作簡(jiǎn)單，便可獲得很好的準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性

6. 綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析
鍍層分析:可分析四層以上厚度,FP分析軟件,做到無標(biāo)準(zhǔn)片亦能進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量(需要配合純材料),為您大大節(jié)省購(gòu)買標(biāo)準(zhǔn)片的成本.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).