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柜谷科技發(fā)展（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： Brookfield質(zhì)構(gòu)儀,HAAKE擠出機(jī),日立掃描電鏡 |
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產(chǎn)品展示
Product| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱(chēng) | |||
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安東帕微米劃痕測(cè)試儀：MST³ 簡(jiǎn)單介紹：安東帕微米劃痕測(cè)試儀：MST³針對(duì)高需求用戶(hù)范圍廣泛的測(cè)試儀 微米劃痕測(cè)試儀廣泛用于表征厚度小于 5 μm 的薄膜和涂層的結(jié)合力。它還是分析有機(jī)和無(wú)機(jī)軟質(zhì)涂層和硬質(zhì)涂層的常用儀器 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：上海市 更新時(shí)間：2021-03-08 |
參考價(jià): 面議 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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安東帕Revetest® 劃痕測(cè)試儀：RST³ 簡(jiǎn)單介紹：安東帕Revetest® 劃痕測(cè)試儀：RST³是工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)儀器，廣泛用于測(cè)試膜厚度超過(guò) 1 μm 的硬質(zhì)涂層的機(jī)械性能。RST³ 是用于測(cè)試涂層/基體附著力和表面抗劃 性能的可靠?jī)x器。該儀器配備的易于使用的軟件包，可以在各種測(cè)試模式下執(zhí)行劃痕測(cè)試，包括簡(jiǎn)模式、高級(jí)模式（帶預(yù)掃描和后掃描功能）、多劃痕模式、臺(tái)階力多劃痕模式、用戶(hù)定義模式等。安東帕是劃痕測(cè)試領(lǐng)域， Revetest® 大 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：上海市 更新時(shí)間：2021-02-22 |
參考價(jià): 面議 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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安東帕微觀組合測(cè)試儀：MCT³ 簡(jiǎn)單介紹：安東帕微觀組合測(cè)試儀：MCT³ 是一款通用測(cè)量頭，可面表征涂層和塊狀樣品的力學(xué)性能。 該儀器載荷范圍大，能夠確定多種樣品的附著力、耐劃擦性、硬度、彈性模量、摩擦和磨損等。它適用于有機(jī)和無(wú)機(jī)涂層以及軟硬涂層（1 µm 到 20 µm 之間），也適用于塊體材料。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：上海市 更新時(shí)間：2021-02-22 |
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