上海斯邁歐分析儀器有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 氣相色譜、液相色譜、氣質(zhì)聯(lián)用儀、液質(zhì)聯(lián)用儀、原子吸收光譜儀、紫外分光光度計(jì) |
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產(chǎn)品展示
Product產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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HF5000日立200kV球差校正透射電鏡 電子顯微鏡 簡(jiǎn)單介紹:日立發(fā)布的200kV球差校正透射電鏡HF5000,具有高穩(wěn)定冷場(chǎng)發(fā)射電子槍,自動(dòng)球差校正器,可一鍵操作實(shí)現(xiàn)自動(dòng)球差校正,HAADF-STEM分辨率可以達(dá)到0.78埃;可配置EDS雙探頭,固體角可達(dá)2.0sr;具備TEM、STEM,SEM和電子衍射等多種圖像觀測(cè)模式;鏡筒和樣品臺(tái)經(jīng)過了重新設(shè)計(jì),顯著提升了儀器的性能和穩(wěn)定性......HF5000將是材料學(xué)、生命科學(xué)、半導(dǎo)體制造、石油煤炭等研究 產(chǎn)品型號(hào):HF5000 所在地:上海市 更新時(shí)間:2024-01-08 |
參考價(jià):¥ 35000000 詢價(jià)留言 | |||
日立HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡 簡(jiǎn)單介紹:專用掃描透射顯微鏡HD-2700,配備了與德國(guó)CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開發(fā)的球差校正儀,顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能,更適合高級(jí)納米技術(shù)研究。由于球差校正系統(tǒng)校正了限制電子顯微鏡的性能的球差,使其與標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)顯微鏡相比,分辨率提高了1.5倍,同時(shí),探針電流提高了10倍。 產(chǎn)品型號(hào): 所在地: 更新時(shí)間:2023-06-17 |
參考價(jià): 面議 詢價(jià)留言 | |||
日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 簡(jiǎn)單介紹:日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000是專門為電子束敏感樣品和需300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀察的半導(dǎo)體器件,高分辨成像所設(shè)計(jì)。 產(chǎn)品型號(hào): 所在地: 更新時(shí)間:2023-06-17 |
參考價(jià): 面議 詢價(jià)留言 | |||
日立高新場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 簡(jiǎn)單介紹:日立高新場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8200系列(HITACHI UHR FE-SEM SU8200 Series,SU8220,SU8230,SU8240)采用日立公司全新開發(fā)的冷場(chǎng)電子槍,實(shí)現(xiàn)超高分辨率下觀察的同時(shí),穩(wěn)定的束流亦可滿足長(zhǎng)時(shí)間下的分析需求。 產(chǎn)品型號(hào): 所在地: 更新時(shí)間:2023-06-17 |
參考價(jià): 面議 詢價(jià)留言 | |||
日立冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 簡(jiǎn)單介紹:FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單,并且它可以觀察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等領(lǐng)域。近年來,以Materials Integration為代表,其應(yīng)用領(lǐng)域及用途在不斷擴(kuò)展,短時(shí)間內(nèi)獲取大量數(shù)據(jù),減輕作業(yè)負(fù)荷成為市場(chǎng)的一大需求。 產(chǎn)品型號(hào): 所在地: 更新時(shí)間:2023-06-17 |
參考價(jià): 面議 詢價(jià)留言 | |||
日立120kV透射電鏡 簡(jiǎn)單介紹:日立新一代全數(shù)字化120kV透射電子顯微鏡HT7800,操作的一體化和自動(dòng)化程度都有明顯提高。 產(chǎn)品型號(hào): 所在地: 更新時(shí)間:2023-03-17 |
參考價(jià): 面議 詢價(jià)留言 |