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X熒光光譜儀 詳細(xì)摘要: X熒光光譜儀具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無(wú)限數(shù)目模式的自由添加,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:蘇州市 更新時(shí)間:2020-02-29 參考價(jià):¥ 450 在線留言
蘇州TianRay儀器股份有限公司 |
詳細(xì)摘要: X熒光光譜儀具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無(wú)限數(shù)目模式的自由添加,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:蘇州市 更新時(shí)間:2020-02-29 參考價(jià):¥ 450 在線留言