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當前位置：廣電計量檢測集團股份有限公司>>活動優(yōu)惠>> TEM介紹及其在半導體失效分析中的應用
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌廣電計量
廠商性質(zhì)工程商
所 在 地廣州市
更新時間：2024-09-03 19:49:15瀏覽次數(shù)：1647次
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李小姐
線上公開課 | CAN/CANFD網(wǎng)絡一致性測試
| 課程形式 | 線上直播 | 課程時間 | 2023-3-30 上午9:30 |
|---|---|---|---|
| 講師 | 英國曼徹斯特大學材料學博士 劉辰 | 課程價格 | 免費 |
透射電子顯微鏡（TEM）于1932年左右發(fā)明，是一種以波長極短的電子束作為電子光源，利用電子槍發(fā)出的高速的、聚集的電子束照射至非常薄的樣品，收集透射電子流經(jīng)電磁透鏡多級放大后成像的高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學儀器。
透射電鏡具有分辨率高、可與能譜儀等其他技術(shù)聯(lián)用的優(yōu)點，在物理、化學、生物學和材料學等多個領域有著廣泛的應用。近年來，隨著半導體行業(yè)飛速發(fā)展，相關產(chǎn)品關鍵結(jié)構(gòu)尺寸的進一步微納米化，透射電鏡逐漸開始作為半導體失效分析的有力工具。
4nm制程芯片TEM成像圖
為了讓用戶對透射電鏡相關內(nèi)容有進一步的了解，此次公開課特意邀請英國曼徹斯特大學材料學博士、廣電計量半導體技術(shù)副經(jīng)理劉辰開展主題為《透射電鏡原理介紹及其在半導體失效分析中的應用》線上公開課。屆時，報名用戶不僅能免費參與課程，聽課期間還有專業(yè)的技術(shù)專家團隊為大家進行現(xiàn)場答疑。
【主題】透射電鏡原理介紹及其在半導體失效分析中的應用
【時間】時間3月30日上午9:30-11:00
【講師】劉辰
● 英國曼徹斯特大學材料學博士
● 廣電計量MA技術(shù)線負責人
● 近十年材料分析和電鏡實操經(jīng)驗
此次公開課不僅作為一場公益課程，更對于報名并成功聽課的客戶提供優(yōu)惠檢測服務方案。
● 優(yōu)惠期間，可享受優(yōu)先檢測服務
● 優(yōu)惠期間，可享受AEC-Q培訓課程八折優(yōu)惠
【優(yōu)惠期：2023.3.30-2023.4.30】
Q：如何確定已報名成功？
A：掃碼報名后界面會提示“報名成功"。其次，如您已經(jīng)關注廣電計量公眾號，將會推送報名成功信息。
Q：公開課開始前是否有信息提示？
A：只要您關注公眾號并成功報名，在課程前5-10分會提醒您聽課。
Q：公開課結(jié)束后，課程是否可回放？
A：是的。
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