A掃B掃同時顯示灰度B掃,缺陷直觀可辯
項 目 | 指 標(biāo) |
產(chǎn)品信息 | |
產(chǎn)品重量(kg) | <2.0 |
產(chǎn)品外型尺寸(mm) | 300×180×57(不帶遮光罩) |
工作溫度(℃) | -10~+50 |
存儲溫度(℃) | -20~+60 |
語言 | 英語、中文 |
探頭連接 | LEMO 或BNC |
電池容量(mAh) | 聚合物電池2×3.7V 5000mAh |
電池工作時間(h) | 8 |
快充時間(h) | 4.5左右 |
電源適配器 | 輸入100-240~50/60Hz 輸出9V DC/ 3 A~4A |
顯示屏 | 彩色透射式TFT,640x480 |
基 本 | |
測量單位 | mm、inch、ms |
掃描范圍(mm) | 零界面入射~10000 |
聲速調(diào)節(jié)(m/s) | 600~16000 |
探頭延遲(ms) | 0.000~750.000 |
顯示延遲(ms) | -20~+3400 |
工作方式 | 單探頭、雙探頭、透射 |
波形顯示方式 | A掃描顯示、灰度B掃描顯示、AB掃描同時顯示 |
脈沖發(fā)生器 | |
脈沖形式 | 模擬方波 |
發(fā)射電源(V) | 200、400、600、1000 |
發(fā)射脈寬(ns) | 75 、100~500 |
探頭阻尼(Ω) | 50、100、200、500 |
發(fā)射重復(fù)頻率(Hz) | 10~1000 |
接收器 | |
增益(dB) | 0~110 |
總帶寬(MHz) | 0.1~15 (-3dB) |
檢波方式 | 正半波、負(fù)半波、全波、射頻 |
垂直線性誤差 | ±2% |
放大器精度(dB) | ±1 |
抑制(%) | 屏高的0~80 |
采樣速率(MHz) | 80 |
發(fā)射串?dāng)_抑制(dB) | 大于80 |
發(fā)射脈沖后盲區(qū)(μs) | 3.3~10(與發(fā)射有關(guān)) |
動態(tài)范圍(dB) | 100 |
瞬時分辨力(dB) | 32 |
時基線性 | 不大于全屏寬度的±0.5%。 |
靈敏度余量 | ≥62dB |
測量及其他 | |
測量閘門 | 2個獨立測量閘門 |
檢測方式 | 邊沿、峰值 |
閘門測量 | 回波的幅值、聲程、深度、投影等 |
凍結(jié) | 凍結(jié)方式有:全凍結(jié)、峰值、比較、包絡(luò)等方式 |
AVG當(dāng)量計算 | 根據(jù)缺陷回波和AVG曲線自動計算缺陷當(dāng)量 |
DAC缺陷定量 | 根據(jù)缺陷回波和DAC 曲線對缺陷進行評估 |
閘門邏輯 | 關(guān)、測量、進波報警、失波報警 |
閘門報警 | 關(guān)、即時、保持.2s、保持.5s、保持1s、保持2s、鎖存 |
報警蜂鳴 | 關(guān)、開 |
數(shù)據(jù)管理,通信及打印 | |
數(shù)據(jù)存儲 | 50個探傷參數(shù)通道記錄 |
1000幅波形圖 (包括980幅A掃描波形和20幅B掃描波形) | |
4x2000幀的動態(tài)波形 | |
數(shù)據(jù)管理 | 實現(xiàn)對通道、波形、動態(tài)記錄的存儲、查看、回放操作 |
上述均可存儲到本地或U盤 | |
通信 | 通過USB接口與PC機通信 |
打印 | 打印探傷報告 |
輸出接口 | |
USB OTG接口 | USB2.0 Device 與PC機通訊接口 USB2.0 Host 接U盤或打印機 |
微型RS232接口 | |
電源適配接口 |