l 可檢測(cè)顆粒物從幾納米到2.5um;
l 既可以測(cè)量顆粒物數(shù)量,也可以測(cè)量顆粒物質(zhì)量;
l 不要求復(fù)雜的取樣系統(tǒng); 直接采樣
l 寬動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍;
l 可連續(xù)性操作
測(cè)量組件
#p
(顆粒物數(shù)量)
mg/m3
(顆粒物質(zhì)量）
測(cè)量范圍 (FS)
0 - 5,000,000 #/cm3
1ug-300mg/m3
測(cè)量極限(LOD)1
-
準(zhǔn)確性(更大的)
≤ 25 % MV2 or 25,000 #/cm3
absolut
測(cè)量頻率
≤ 10 Hz
檢測(cè)效率
23 nm ± 1 nm :
≤ 50 ± 25 %
55 nm ± 1 nm :
≤ 100 ± 25 %
-
-
發(fā)動(dòng)機(jī)臺(tái)架測(cè)試；
整車(chē)PEMS測(cè)試
CEMS超細(xì)顆粒物測(cè)量
SCR排放測(cè)試
此傳感器的法拉第杯內(nèi)有電暈充電器，微粒在此法拉第杯內(nèi)被充電并被傳感器
內(nèi)部的噴射稀釋器推動(dòng)。新鮮潔凈的空氣被鉑電暈針產(chǎn)生的大約2千伏高壓放電電
離，正離子被推動(dòng)通過(guò)噴射器喉部，此處產(chǎn)生的負(fù)壓用于抽吸含有微粒的樣氣，噴
射泵產(chǎn)生恒定的流量通過(guò)傳感器，此流量并不受廢氣管中的流量變化影響。在噴射
泵后，紊流混合確保了離子、微粒及微粒表面一定數(shù)量離子沉積之間的接觸。
自由陽(yáng)離子（不沉積在微粒表面）被來(lái)自電極的正捕集電壓從樣氣中去除，產(chǎn)
生的電場(chǎng)推動(dòng)自由離子向傳感器壁聚集，此處僅僅離子化粒子離開(kāi)傳感器。傳感器
中的靜電計(jì)用于測(cè)量法拉第杯在充電前（進(jìn)口）與充電后（出口）的電流差，此差
額與廢氣中微粒的質(zhì)量及數(shù)量濃度成比例。
