- 的動態(tài)范圍
> 130分貝（IF帶寬10 Hz）
- 低固有噪聲
<-130>
- 廣泛的頻率范圍為普遍使用
10赫茲至4 GHz（ZVRE，ZVR）的
20 kHz到8 GHz的（ZVCE，ZVC）
- 高測量速度
<125μs>
<240μs>
- 通過IEC / IEEE線的高速數(shù)據(jù)傳輸
轉(zhuǎn)換時間<>
- 定制的，可升級的家庭觀念
模塊化設(shè)計，使用選項
- 高掃描速率
>> 25次掃描/秒（200分）
- 動校準技術(shù)
TOM，TRL，TRM，TNA，TOM-X，TOSM
- 自動校準AutoKal
- 與PC的兼容性，CAE
內(nèi)部PC與Windows NT操作統(tǒng)，適合PC應用
速度>> 25次掃描/秒
極低的噪聲和快速合成相結(jié)合的一個非常大的測量帶寬可達至26 kHz的升OWS真正的 - 結(jié)果顯示。該ZVx措施不是在兩個隨后的掃描，但在向前和向后的方向在每個頻率點，這樣有的四個S-參數(shù) - 包括統(tǒng)糾錯。這可確保*修正后的數(shù)據(jù)實時顯示，即使在掃描速度，減少路線。ZVx的動態(tài)范圍是即使在高測量速率25掃描/ s和10 kHz的測量帶寬過95分貝。
動態(tài)范圍> 130分貝
現(xiàn)代的RF組件的的高阻帶低通帶衰減放置網(wǎng)絡(luò)分析儀的新的要求。由于基波混頻，有用的羅德與施瓦茨公司的網(wǎng)絡(luò)分析儀的動態(tài)范圍更是過25分貝，比常規(guī)的取樣技術(shù)。由于低噪聲前端，羅德與施瓦茨公司的網(wǎng)絡(luò)分析儀達到> 130 dB的動態(tài)范圍，因此可以進行傳輸測量DUT上具有*的阻帶衰減，具有精度高，即使在低輸入電平。
功率校準測試活躍的DUT
電源在出廠前進行校準，使恒定的輸出功率和的輸入電平在整個頻率范圍內(nèi)測量精度高。這是一個特別重要的用于頻率變換的測量和對活性成分的非線性測量。此外，頻率相關(guān)的電平變化的一個外部測試設(shè)置可以被測量和補償?shù)墓β市蔬x項與援助。
26厘米彩色LCD上同時顯示四個跟蹤
The ZVx models are the first network analyzers in this price class to simultaneously display up to four measurement traces with independent parameters (measured quantity frequency range bandwidth etc). The large active colour LCD with high refresh rate allows precise alignments without operator fatigue.
內(nèi)部PC
網(wǎng)絡(luò)分析儀都配有一個接口，鍵盤，鼠標，打印，外接顯示器和Windows NT作為操作統(tǒng)的PC板，包括。在PC模式下，內(nèi)部的硬盤可以被訪問和PC程序的ZVR執(zhí)行。此功能大大簡化了操作，處理和結(jié)果記錄。可選的以太網(wǎng)鏈路上的任何打印驅(qū)動程序和IEC / IEEE線控制程序的執(zhí)行，整合ZVR大大擴展應用范圍和性能。完整的設(shè)置，痕跡，數(shù)值模擬結(jié)果，限制線，校準數(shù)據(jù)，宏和截圖可以存儲在硬盤上或軟盤上。可用的格式（如WMF，ASCII，小夜曲......）允許免稅進口問題，以Windows程序。數(shù)據(jù)可以借助于內(nèi)部PC在ZVR處理。
自動測試統(tǒng)
快速記錄和處理測量數(shù)據(jù)，此外，SCPI適形IEC / IEEE線指令集使有型號的自動測量統(tǒng)中使用的ZVR家庭的理想選擇。有車型都配備了兩個IEC / IEEE線接口標準。一個用于分析儀控制通過外部PC，控制外部設(shè)備，例如信號源的互調(diào)或混頻器測量，從ZVR。另一個可選的IEC / IEEE線接口，用于內(nèi)部PC。通過這個接口，IEC / IEEE控制方案可以執(zhí)行的內(nèi)部PC，從而，使ZVR控制或完整的測試統(tǒng)。以太網(wǎng)選項允許將數(shù)據(jù)通過LAN交換和控制。
有效的校??準技術(shù)
經(jīng)典的12項校準方法需要四個校準標準：通過，開路，短路和匹配。的的名稱TOSM給這個方法，是標準的名字的縮寫。還提供了許多其他現(xiàn)代的校準方法（TOM，TRM，TRL，TNA）在ZVR和ZVC。不同TOSM（12項），他們只需要三種不同的標準。此外，線（L），可以使用反映與未知的反射數(shù)（R）的一個端口，匹配衰減器（A）和兩端口網(wǎng)絡(luò)（N）的對稱反射。由于其簡單，TOM是的方法一般應用。校準的頻率高達100 MHz，甚至沒有必要連接開路，端口可以簡單地敞開。因此，一個完整的雙端口校準可以只用兩個校準標準。TOM允許，也隱含驗證，這樣的錯誤造成的缺陷的校準套件或操作錯誤被排除在外。在實驗室中，特別是在生產(chǎn)，大大提高了可靠性。
隨著晶圓上測量，測量PCB上或在夾具設(shè)計或合適的校準標準，在合理的努力是很難。羅德與施瓦茨公司開發(fā)并獲得的TNA和TRM校準方法可以解決這個問題。與這些方法的校準標準的特性不必是*已知的。與TNA，例如，一個完整的兩端口校準可以執(zhí)行與兩個標準：如果反射對稱設(shè)置在參考平面，與網(wǎng)絡(luò)（N）的校準步驟并不需要一個標準的連接，測試端口可以只是讓開放。僅有通過（T）與已知的長度和一個匹配的衰減器（A）是必需的。
被減少到低限度，當AutoKal選項，僅需要一個簡單的貫通連接，用于校準的努力。
