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更新時(shí)間:2024-04-22 10:30:39瀏覽次數(shù):106次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線美國(guó)DAKOTA公司多功能超聲波測(cè)厚儀CMX/CMXDL,可測(cè)量材料的厚度,穿透涂層測(cè)量材料厚度,也可以測(cè)量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置,以獲得更佳的性價(jià)比。多功能超聲波測(cè)厚儀CMX/CMXDL
CMX
除了常規(guī)的超聲波測(cè)厚儀的功能外,增加了B-掃描功能和多種測(cè)量模式,包括:
- 脈沖-回波(P-E)模式,測(cè)量材料厚度
- 脈沖-回波涂層(PECT)模式,同時(shí)測(cè)量材料厚度和涂層厚度
- 脈沖-回波溫度補(bǔ)償(PETP)模式,測(cè)量材料厚度
- 回波-回波(E-E)模式,穿過(guò)涂層測(cè)量材料厚度
- 回波-回波驗(yàn)證(E-EV)模式,穿過(guò)涂層測(cè)量材料厚度
- 測(cè)量涂層(CT)模式,只測(cè)量涂層厚度
CMXDL
在CMX的超聲波測(cè)厚儀基礎(chǔ)上,增加了存儲(chǔ)功能。
CMXDL+
在CMXDL超聲波測(cè)厚儀的基礎(chǔ)上,增加了A掃描功能,多種探頭類型(包括雙晶探頭、單晶延遲塊探頭、單晶接觸型探頭、單晶筆形探頭),另有彩色屏幕主機(jī)可選。
技術(shù)參數(shù)
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