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場發(fā)射掃描電子顯微鏡（熱場）(Field Emission Scanning Electron Microscope)

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產品簡介

廠商：美國FEI型號：FEIQUANTA250FEG到貨日期：2011年3月主要參數：1）高真空1.0nm30kV（SE）

詳細介紹

廠商：美國FEI
型號： FEI QUANTA 250 FEG
到貨日期： 2011年3月

主要參數：

1）高真空 1.0nm 30kV（SE）；3.0nm 1kV以下；2.5nm 30kV (BSE)
2）高真空減速模式 3.0nm1kV以下（BSE）； 2.3nm 1kV以下（ICD）
3）低真空 1.4nm 30kV（SE）；2.5nm 30kV（BSE）
4）環(huán)境真空（ESEM） 1.4nm 30kV （SE）電子槍：高分辨肖特基場發(fā)射電子槍加速電壓：220v-30kV X射線能譜儀的元素分析范圍：Be4～U92

主要用途：

金屬、陶瓷、混凝土、生物、高分子、礦物、纖維等無機或有機固體材料的斷口、表面形貌的觀察；材料的相分布和夾雜物形態(tài)成分的鑒定；金屬鍍層厚度及各種固體材料膜層厚度的測定；進行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析。

關鍵詞：能譜儀

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