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納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)Hysitron TS 77 Select

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更新時(shí)間：2024-02-21 14:48:21瀏覽次數(shù)：222次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

基本核心測(cè)試模塊，包括納米壓痕、動(dòng)態(tài)納米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損和原位SPM成像。電容式傳感器技術(shù)，提供高靈敏度和低熱漂移，在納米到微米尺度上實(shí)現(xiàn)可靠的表征。直觀控制軟件和操作，讓操作員實(shí)現(xiàn)技術(shù)人員級(jí)的可靠測(cè)量。

詳細(xì)介紹

Hysitron TS 77 精選是自動(dòng)化臺(tái)式納米力學(xué)和納米摩擦測(cè)試系統(tǒng)，可提供同類(lèi)儀器的*高性能、多功能和易用性。這種新型測(cè)試系統(tǒng)以布魯克杰出的TriboScope電容式傳感器技術(shù)為設(shè)計(jì)，在納米至微米尺度上提供可靠的力學(xué)和摩擦學(xué)表征。TS 77 精選支持*主流的測(cè)試模式，是定量納米壓痕、動(dòng)態(tài)納米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損和高分辨力學(xué)性能成像的高性?xún)r(jià)比解決方案。

納米壓痕 - 高精度力學(xué)特性

描述局部微結(jié)構(gòu)、界面、微小表面特征和薄膜的彈性模量、硬度、蠕變、應(yīng)力松弛和斷裂韌性。

原位 SPM 成像 - 實(shí)現(xiàn)**的納米力學(xué)表征

利用同一探頭對(duì)樣品表面進(jìn)行原位三維形貌成像，與納米力學(xué)測(cè)試一起，實(shí)現(xiàn)**的納米力學(xué)表征、數(shù)據(jù)可靠性和納米級(jí)精度的定位。

力學(xué)性能成像 - 快速成像和快速數(shù)據(jù)采集

提供高速測(cè)試功能，比傳統(tǒng)的納米壓痕測(cè)試速度快 180 倍。以每秒兩次納米壓痕測(cè)試的測(cè)試速度，在幾分鐘內(nèi)獲得不均勻材料的高分辨率力學(xué)性能分布圖。

磨損測(cè)試 - 定量納米級(jí)耐磨性

定量磨損體積和磨損率可以測(cè)量為施加的接觸力、滑動(dòng)速度和重復(fù)次數(shù)的函數(shù)。由于測(cè)試的尺度很小，可以方便地測(cè)量單個(gè)微結(jié)構(gòu)、接口和薄膜的摩擦性能。

動(dòng)態(tài)納米壓痕 -深度分析，粘彈性特性

動(dòng)態(tài)納米壓痕將一個(gè)小振蕩力分量疊加在準(zhǔn)靜態(tài)力上，以連續(xù)測(cè)量硬度和模量，作為對(duì)材料表面深度的函數(shù)。動(dòng)態(tài)納米壓痕選項(xiàng)包括針對(duì)動(dòng)態(tài)測(cè)量和控制器的*門(mén)*化，可為測(cè)試深度、頻率和時(shí)間的函數(shù)提供**的結(jié)果。

納米劃痕 - 摩擦、耐磨性和薄膜結(jié)合力

納米劃痕利用靜電驅(qū)動(dòng)二維傳感器以受控方式施加正常力，同時(shí)測(cè)量在樣品表面橫向移動(dòng)**所需的力。納米劃痕選項(xiàng)不依賴(lài)于電動(dòng)樣品臺(tái)的橫向運(yùn)動(dòng)，提供市場(chǎng)上*敏感和可靠的納米級(jí)摩擦和薄膜結(jié)合力測(cè)量。

簡(jiǎn)化系統(tǒng)操作和數(shù)據(jù)分析

布魯克的 TS 精選的控制和分析軟件包*門(mén)為*化測(cè)量過(guò)程而開(kāi)發(fā)：從裝載樣品和測(cè)試設(shè)置到測(cè)量執(zhí)行和數(shù)據(jù)分析。TS 77精選的控制軟件集成了自動(dòng)樣品測(cè)試和儀器校準(zhǔn)程序，用于簡(jiǎn)單、高通量和**表征。