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更新時間:2024-02-21 14:40:06瀏覽次數(shù):91次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線無以倫比的控制和性能,具有固有的位移控制,位移范圍從
The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIB/SEM)的**成像能力,可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker *的電容傳感技術,繼承了**市場的**批商業(yè)化原位 SEM 納米力學平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態(tài)測試和力學性能成像等功能。
Hysitron PI 89的緊湊設計允許*大的樣品臺傾斜,以及測試時成像的*小工作距離。PI 89為研究者提供了比競爭產(chǎn)品更廣闊的適用性和性能:
Hysitron PI 89利用布魯克的亞納米尺度傳感器和壓電力驅動結構實現(xiàn)真正的位移控制和載荷控制測試:
Hysitron PI 89獲得的原位力學測試結果與SEM成像同步且并列顯示。這使得用戶能觀察到缺陷、應變、熱/電刺激對于工程材料性能、壽命和耐久性從納米到微米尺度的影響。這種同步實現(xiàn)更多的分析:
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