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Krios G4冷凍透射電子顯微鏡（cryo-TEM）

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更新時間：2023-02-17 12:41:55瀏覽次數(shù)：807次

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產(chǎn)品簡介

新一代ThermoScientific™Krios™G4冷凍透射電鏡Cryo-TEM是該系列產(chǎn)品中設(shè)計的

詳細介紹

新一代 Thermo Scientific™ Krios™ G4冷凍透射電鏡Cryo-TEM是該系列產(chǎn)品中設(shè)計的。通過對機械底座框架和設(shè)備外殼的全新設(shè)計，該款設(shè)備凈身高縮短至3 m以內(nèi)，適用于任何天花板高度在3.04 m（10 ft）以上的實驗室，由此可省去昂貴的實驗室改造費用。

Krios G4 冷凍透射電鏡進行了人體工程學改造，樣品更換更容易。同時，數(shù)據(jù)采集軟件設(shè)置起來也更方便快速，這都要歸功于更高的自動化程度以及系統(tǒng)性的使用指南和高級性能監(jiān)控軟件（Advanced Performance Monitoring，APM），該軟件內(nèi)置了自診斷功能，確保電鏡始終處于獲得高分辨數(shù)據(jù)所需的校準狀態(tài)。

與此同時，新的電子光學模式，改善的電子光學性能和實時預處理功能相結(jié)合，進一步提升系統(tǒng)的實驗效率和高分辨性能。

核心優(yōu)勢:

空間適配性增強：

全新設(shè)計的內(nèi)部基礎(chǔ)框架和系統(tǒng)外殼降低了設(shè)備高度（
實驗效率顯著提升：

? 改進后的漂移性能讓實驗啟動速度提高至3倍

? EPU載網(wǎng)網(wǎng)格聚類功能幫助用戶自動選擇網(wǎng)格

? 無邊緣效應成像（Fringe-Free Imaging，F(xiàn)FI）、無像差成像區(qū)域位移（Aberration-Free Image Shift，AFIS）和Falcon 4相機結(jié)合將單顆粒分析的實驗效率提高至4倍

? EPU質(zhì)量監(jiān)控軟件支持單顆粒分析實驗中數(shù)據(jù)的實時預處理，以優(yōu)化數(shù)據(jù)采集過程

? 高級性能監(jiān)控軟件APM確保每個顆粒自動采集前儀器都處于的初始狀態(tài)

成像質(zhì)量：的電子光學性能 – 信息極限0.12 nm線性失真度
更連貫的工作流程：內(nèi)置的可交換樣品載網(wǎng)盒設(shè)計，在配備了Autoloader的設(shè)備（如Krios、Arctica和Glacios系列電鏡）之間樣品傳輸更為方便連貫 - 確保樣品篩查和數(shù)據(jù)采集過程的系統(tǒng)連貫性