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EXPLORER 多功能X射線衍射儀

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更新時(shí)間：2023-07-22 17:22:35瀏覽次數(shù)：211次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

詳細(xì)介紹

主要特點(diǎn)
■ 直接傳動(dòng)高精度轉(zhuǎn)矩馬達(dá)與優(yōu)良的光學(xué)編碼器相結(jié)合，確保了儀器的傳動(dòng)速度和精度；
■ 全部組件可以拆分為7個(gè)模塊，同時(shí)可以在5個(gè)獨(dú)立自由度上檢測(cè)樣品，適用于粉末、薄膜和塊狀樣品；
■ 可以進(jìn)行常規(guī)的晶相識(shí)別和定量，可以分析晶體尺寸、晶格應(yīng)變及結(jié)晶度的計(jì)算；
■ 可以定量分析殘余奧氏體、多晶物篩查、晶體結(jié)構(gòu)分析、殘余應(yīng)力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向、納米粒子分析；
■ 光學(xué)系統(tǒng)可以在 Bragg-Brentano 聚焦和 Johansson 或拋面鏡單色器自由切換；
■ 高分辨的反射技術(shù)，讓檢測(cè)厚度精確至1-500nm，幾何平行光束采用了小反射角和薄膜附件，從而可以進(jìn)行薄膜或?qū)哟畏治觯?/span>
■ 將拋面鏡單色器與晶體開(kāi)槽技術(shù)有機(jī)結(jié)合，并安裝在入射光束上，可以獲得高強(qiáng)度、低散射適合高分辨率測(cè)量的平行單色光；
■ 強(qiáng)大、簡(jiǎn)便的操作軟件使得檢測(cè)工作更加簡(jiǎn)單，軟件同時(shí)具有其他進(jìn)階功能，可以幫助用戶對(duì)復(fù)雜的譜圖進(jìn)行分析。