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布魯克MPA II多功能靈活擴(kuò)展近紅外光譜儀

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更新時(shí)間：2023-06-28 17:58:39瀏覽次數(shù)：153次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

MPA II 是布魯克光譜部門(mén)集近 40 年設(shè)計(jì)和生產(chǎn) FTIR 和 FT-NIR 光譜儀經(jīng)驗(yàn)的結(jié)晶，該儀器具有強(qiáng)大的擴(kuò)展靈活性和*的性能，為 FT-NIR 分析儀器樹(shù)立了新的標(biāo)準(zhǔn)。其高性能的附件和靈活的操作性，成為實(shí)驗(yàn)室和過(guò)程分析開(kāi)發(fā)各種方法的強(qiáng)有力工具，能夠的滿足不同用戶科研和生產(chǎn) QA/QC 的需求。采用模塊化設(shè)計(jì)，可以針對(duì)每個(gè)分析任務(wù)進(jìn)行單獨(dú)配置。的擴(kuò)展性能在有特定

詳細(xì)介紹

在有特定應(yīng)用研發(fā)需求時(shí)，選擇測(cè)量方法很關(guān)鍵。MPA II 不僅可用于日常的 QA/QC 工作使用，也可用于復(fù)雜方法開(kāi)發(fā)研究。

在最初測(cè)量時(shí)，通常不能確定哪種測(cè)量方式，通過(guò) MPA II，只需嘗試幾種方法并選出結(jié)果的方法即可。

液體樣品能夠在樣品腔內(nèi)用小玻璃瓶或比色皿進(jìn)行測(cè)量，也可以用液體光纖探頭直接插入液體容器中進(jìn)行測(cè)量。
散裝混合藥物可用固體光纖探頭進(jìn)行組分測(cè)定，也可裝于小瓶中進(jìn)行積分球測(cè)量。
顆粒、粉末、糊狀、膏狀等固體樣品可用積分球或固體漫透射進(jìn)行測(cè)量。
加工后的片劑可用固體漫透射和自動(dòng)進(jìn)樣器進(jìn)行分析。

由于 MPA II 是模塊化設(shè)計(jì)，有多種測(cè)量方法可供選擇，能夠輕松根據(jù)您的需求做出調(diào)整。該儀器結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用使其適合于在實(shí)驗(yàn)室和工廠中使用。甚至可以置于實(shí)用工具車(chē)上用于移動(dòng)應(yīng)用。

的創(chuàng)新技術(shù)

MPA II 綜合了當(dāng)前世界近紅外光譜的前沿技術(shù)，具有杰出的性能和穩(wěn)定性：

長(zhǎng)壽命光源，增強(qiáng)了產(chǎn)品耐用性，降低了維護(hù)成本。
經(jīng)久耐用的固態(tài)激光器，可提供波數(shù)精度。
準(zhǔn)直的RockSolid™干涉儀，采用了三維立體角鏡技術(shù)，均為鍍金處理；能夠提供高精度的測(cè)試結(jié)果，減少故障的發(fā)生頻率，確保儀器的穩(wěn)定性。
高靈敏InGaAs檢測(cè)器，可以提供全波段的線性響應(yīng)，保證精確性和再現(xiàn)性。

MPA II配備的所有光學(xué)元件都得到在線診斷系統(tǒng)的監(jiān)控，確保您的光譜儀正常運(yùn)轉(zhuǎn)。一旦有任何元件不符合參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)，用戶就能立刻收到通知。

便捷的維護(hù)措施

MPA II優(yōu)良的人性化設(shè)計(jì)使儀器維護(hù)方便快捷，大大節(jié)省了維護(hù)時(shí)間和成本。易耗品（如激光管和光源）都設(shè)計(jì)成長(zhǎng)壽命型；但如需更換，系統(tǒng)將會(huì)自動(dòng)提示用戶，并在線提供更換部件的幫助信息。所有易耗品都采用了預(yù)準(zhǔn)直設(shè)計(jì)，可在短時(shí)間內(nèi)快速完成更換。

MPA II 通過(guò)以太網(wǎng)卡連接，借助局域網(wǎng)或網(wǎng)絡(luò)訪問(wèn)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)儀器的遠(yuǎn)程控制和診斷。

10年質(zhì)保

MPA II FT-NIR光譜儀品質(zhì)，我們?yōu)楦缮鎯x的移動(dòng)部件和固態(tài)激光器提供10年質(zhì)保。

簡(jiǎn)便的操作控制

人性化的工作平臺(tái)、簡(jiǎn)便化的測(cè)量模式和指導(dǎo)，可以幫助用戶在 OPUS 軟件上實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)分析方法的設(shè)定。單擊鼠標(biāo)或按下觸摸鍵即可開(kāi)始測(cè)量。

在控制面板上，用戶可直接了解儀器的工作狀態(tài)和測(cè)試是否完成。這些都使得儀器和軟件的操作更加容易，即使未受過(guò)培訓(xùn)的人員也能夠輕松操控 MPA II。

MPA II 為 FT-NIR 光譜法帶來(lái)靈活性：可選各種擴(kuò)展模塊用于不同物態(tài)樣品和應(yīng)用研發(fā)。

關(guān)鍵詞：光譜儀

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