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德國(guó) PVA 超聲波掃描顯微鏡 SAM 302 HD2

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產(chǎn)品型號(hào)超聲波掃描顯微鏡 SAM 302 HD2

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詳細(xì)介紹

德國(guó) PVA 超聲波掃描顯微鏡

型號(hào)： SAM 302 HD2（適合5-6mm 以內(nèi)翹曲樣品，如12寸FOWLP ，一次性掃描完成）

SAM 302 HD2 主要技術(shù)參數(shù)：

可根據(jù)樣品的翹曲情況（5-6mm以內(nèi)），在掃描過程中實(shí)時(shí)調(diào)整焦距:即 Z 軸一邊快速掃描，一邊實(shí)時(shí)自動(dòng)改變 Z 軸探頭的上下對(duì)焦位置，使得探頭對(duì)于檢測(cè)位置始終處于聚焦?fàn)顟B(tài)，從而保證整個(gè)樣品的掃描圖像完整性；不會(huì)出現(xiàn)因樣品翹曲無法掃描到或者圖像灰度值不一樣的情況；

X / Y 軸均為超高性能線性馬達(dá)，雙馬達(dá)，且內(nèi)置磁力機(jī)構(gòu)，配合光柵尺精確定位

前后雙探頭架構(gòu)，可前后同時(shí) C 掃描，2 倍于單探頭掃描效率；

一前一后每個(gè)探頭 C 掃描范圍≥ 320 x 320 mm

掃描速度：2,000 mm/s - 可手動(dòng)或自動(dòng)調(diào)整速度，平均可用1500mm/s;

XY 軸機(jī)械重復(fù)精度 ±

ADC卡采樣頻率 5G/秒，帶散熱風(fēng)扇；

自動(dòng)聚焦：不僅具有表面自動(dòng)對(duì)焦功能，同時(shí)還可對(duì)樣品內(nèi)部任意界面自動(dòng)對(duì)焦；在用戶需要重復(fù)檢測(cè)同一種類樣品時(shí)，即使樣品擺放有一定的高度誤差，設(shè)備可以自動(dòng)對(duì)焦到所設(shè)定的界面，操作人員不需要每次掃描前將對(duì)焦位置重新校準(zhǔn)，只需要直接掃描即可。

主要掃描模式：A-Scan（點(diǎn)掃描）、B-Scan（縱向掃描）、C-Scan（橫向掃描）、X-Scan （多層斷層C掃描）、多重門限掃描、T-Scan (透射掃描)-選項(xiàng)、High Quality-高清晰掃描、表面跟蹤掃描、Z-Scan實(shí)體掃描模式（虛擬再生掃描功能）、多重區(qū)域掃描下包括托盤矩陣掃描、 Z變換掃描（探測(cè)掃描）、順序掃描（序列掃描）、預(yù)掃描、自動(dòng)掃描、分頻掃描、覆蓋掃描、插值掃描模式等

圖像分辨率最小: 32,000 x 32,000 像素, 精度最小像素;

在輸入掃描面積和每個(gè)像素的分辨尺寸后，軟件自動(dòng)計(jì)算圖像分辨率;

定量測(cè)量功能：

X -Y 長(zhǎng)度計(jì)算；厚度與距離測(cè)量；膠厚測(cè)量；可根據(jù)樣品的實(shí)際輪廓（圓形，矩形，不規(guī)則形）對(duì)檢測(cè)界面、焊接界面質(zhì)量進(jìn)行缺陷面積百分比統(tǒng)計(jì)分析，樣品掃描后可采用鼠標(biāo)選擇掃描范圍后提供缺陷尺寸列表并輸出報(bào)告（可顯示所有孔洞尺寸、面積等信息，分析區(qū)域的孔洞率、孔洞尺寸、面積等），點(diǎn)擊列表中任一行可顯示該缺陷在掃描圖像上的 X/Y 區(qū)域，便于進(jìn)一步分析和定位缺陷；可進(jìn)行表面平整度測(cè)試，顯示樣品表面3D形貌圖并計(jì)算高度差異等；

配置高分辨率 DTS 動(dòng)態(tài)透射裝置：透射接收探頭 40MHz f=16mm 或 40MHz f=可選；使用者可以像 C-掃描反射探頭一樣對(duì)該透射接收探頭進(jìn)行軟件調(diào)焦，透射圖像甚至可以和C-掃描的分辨率相媲美；DTS 高分辨率動(dòng)態(tài)透射掃描裝置

除軟件濾波功能外，同時(shí)配置外置濾波器，可有效消除雜波，提供更小信噪比的半波，提高有用的信號(hào)波形增益，同時(shí)又使得波形變成比較窄（帶寬比較?。┖透蓛?，從而提高掃描圖像的分辨率，使得掃描的圖像更清晰，軟件開關(guān)控制；

軟件操作界面可根據(jù)用戶使用習(xí)慣或?qū)I(yè)術(shù)語，自行命名（中英文切換）；

關(guān)鍵詞：顯微鏡