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上海智鳶機電設(shè)備有限公司
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更新時間:2023-07-26 17:36:46瀏覽次數(shù):399次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線RIGAKU理學公司自1951年成立以來,一直站在研究分析和工業(yè)儀器技術(shù)的比較前沿。當今伴隨著數(shù)百個重大創(chuàng)新,RIGAKU公司在以下領(lǐng)域成為世界的。其中包括一般X射線衍射儀(XRD),薄
RIGAKU X射線衍射儀
RIGAKU理學公司自1951年成立以來,一直站在研究分析和工業(yè)儀器技術(shù)的。當今伴隨著數(shù)百個重大創(chuàng)新,RIGAKU公司在以下領(lǐng)域成為世界的。其中包括一般X射線衍射儀(XRD),薄膜分析儀(XRF、XRD及XRR),X射線熒光光譜儀(TXRF、EDXRF及WDXRF),小角度X射線散射儀(SAXS),蛋白質(zhì)和小分子X射線晶體儀,拉曼光譜儀,X射線光學器件,半導體計量儀(TXRF、XRF、XRD及XRR),實驗室自動化,X射線源儀,計算機體層攝影儀,非破壞性檢查儀以及熱分析儀。
RIGAKU對X射線及其補充技術(shù)深層理解,RIGAKU真正的力量是與客戶共同合作的意愿。 通過推進科學和工業(yè)領(lǐng)域的合作關(guān)系、對話和創(chuàng)新,理學經(jīng)過不懈努力向客戶提供集成的分析解決方法。
RIGAKU員工致力于開發(fā)支持大學院校、工業(yè)和政府實驗室,與最終客戶為中心的集成解決方案的各種不同的學科,提供廣泛學科的以客戶為中心的集成分析解決方法,包括結(jié)構(gòu)蛋白質(zhì)組學、超微工程研究、 一般用途的 x 射線衍射(XRD)和光譜學(XRF)、材料分析和品質(zhì)管理。
無論為創(chuàng)造更好的半導體芯片提供工具,實現(xiàn)藥物開發(fā),改善生產(chǎn)線品質(zhì)或探索前沿的納米技術(shù),理學都將提供創(chuàng)新的產(chǎn)品和服務(wù)。
RIGAKU員工總數(shù)超過1100人,分布在日本、美國、歐洲和中國。理學尊重每一名員工。理學的價值來源于所有員工。RIGAKU的客戶與員工之間的親密合作關(guān)系設(shè)定RIGAKU工作的方向和重點,使RIGAKU滿足客戶需求并且靠近市場 。
產(chǎn)品描述:
RIGAKU X射線衍射儀(XRD)
MiniFlex、用于物相分析和晶相的定量分析等常規(guī)目的的新型第5代臺式XRD儀器
Ultima IV、用于應(yīng)用程序從研發(fā)到質(zhì)量管理的高性能多功能的XRD儀器
SmartLab、通過系統(tǒng)指導軟件(Guidance)運行的銳的高分辨率XRD儀器
TTRAX III、強θ/θ高分辨率X射線衍射儀,特點為面內(nèi)衍射機械臂
RAPID II、彎曲成像板(IP)XRD儀器,特點為極大孔徑和旋轉(zhuǎn)陽極或密封型X射線管線源(二選一)
DualSource RAPID II、雙源曲面成像板系統(tǒng),包括密封管和鉬標準密封的管銅微焦點
RIGAKU應(yīng)力分析儀
MSF/PSF-3M、非破壞性的殘余應(yīng)力測試材料,具有可用于任何樣品尺寸的配置
PSPC/MSF、*的XRD應(yīng)力分析儀,特點為可以高速測量的位置靈敏正比計數(shù)器(PSPC)
AutoMATE II、通過并傾法和側(cè)傾法對實驗室微小部XRD殘余應(yīng)力分析
X射線衍射儀(XRD)是用于分析各種問題的重要的非破壞性工具之一,從流體到粉末和晶體。從研究到生產(chǎn)和工程,XRD在材料特點分析和質(zhì)量控制中是一個的方法。理學公司與學術(shù)界用戶、工業(yè)用戶合作開發(fā)了一系列衍射儀,提供了技術(shù)*、靈活性強且性價比高的衍射解決方法。
RIGAKU元素分析產(chǎn)品
X射線熒光技術(shù)為大多數(shù)材料的元素組成類型的測試提供了一個、最準確且的分析方法。此技術(shù)一般為非破壞性,樣品制備程序簡單(如有需要),此外適用于固體、液體、粉末及合金。XRF可以測試廣泛的元素范圍Be(5)~U(92),對許多應(yīng)用程序提供sub-ppm檢測限制。
RIGAKU X射線熒光(XRF)光譜儀
Supermini200、臺式下照射式WDXRF光譜儀分析元素范圍F~U的固體、液體和粉末樣品
NEX QC, NEX QC+、低成本EDXRF元素分析儀測試元素范圍Na~U的固體、液體、粉末和薄膜樣
ZSX Primus、高功率、下照射式、具有Mapping分析和超輕元素性能的連續(xù)WDXRF光譜儀
Primini Biofuel、臺式WDXRF為石油產(chǎn)品中P、S和Cl的sub-ppm檢測限制進行優(yōu)化
NEX CG、高性能、解析幾何EDXRF元素分析儀測試元素范圍Na~U的固體、液體、粉末和薄膜樣品
ZSX Primus II、高功率、上照射式、具有Mapping分析和超輕元素性能的連續(xù)WDXRF光譜儀
Mini-Z Sulfur、ASTM D2622法WDXRF分析儀用于石油燃料和超低硫柴油(ULSD)中的硫(S)分析
NANOHUNTER、臺式全反射X射線熒光(TXRF)光譜儀執(zhí)行元素分析直到PPB的水平
Simultix 14、高容許功率、下照射式、多道同時WDXRF光譜儀分析元素范圍Be~U
Mini-Z 系列、質(zhì)量控制應(yīng)用程序的下照射式WDXRF單個元素分析儀
AZX 400適用于大型樣品、高功率、下照射式、具有Mapping分析的連續(xù)WDXRF光譜儀
ZSX Primus III+、高功率、上照射式、順序WDXRF光譜儀
Micro-Z ULS、Dedicated ultra-low sulfur analyzer for petroleu
Supermini200、臺式下照射式WDXRF光譜儀分析元素范圍F~U的固體、液體和粉末樣品
NEX QC, NEX QC+、低成本EDXRF元素分析儀測試元素范圍Na~U的固體、液體、粉末和薄膜樣品
ZSX Primus、高功率、下照射式、具有Mapping分析和超輕元素性能的連續(xù)WDXRF光譜儀
Primini Biofuel臺式WDXRF為石油產(chǎn)品中P、S和Cl的sub-ppm檢測限制進行優(yōu)化
NEX CG、高性能、解析幾何EDXRF元素分析儀測試元素范圍Na~U的固體、液體、粉末和薄膜樣品
ZSX Primus II、高功率、上照射式、具有Mapping分析和超輕元素性能的連續(xù)WDXRF光譜儀
Mini-Z Sulfur、ASTM D2622法WDXRF分析儀用于石油燃料和超低硫柴油(ULSD)中的硫(S)分析
NANOHUNTER、臺式全反射X射線熒光(TXRF)光譜儀執(zhí)行元素分析直到PPB的水平
Simultix 14、高容許功率、下照射式、多道同時WDXRF光譜儀分析元素范圍Be~U
Mini-Z 系列、質(zhì)量控制應(yīng)用程序的下照射式WDXRF單個元素分析儀
AZX 400、適用于大型樣品、高功率、下照射式、具有Mapping分析的連續(xù)WDXRF光譜儀
ZSX Primus III+、高功率、上照射式、順序WDXRF光譜儀
Micro-Z ULS、Dedicated ultra-low sulfur analyzer for petroleum
X射線熒光技術(shù)為大多數(shù)材料的元素組成類型的測試提供了一個、最準確且的分析方法。此技術(shù)一般為非破壞性,樣品制備程序簡單(如有需要),此外適用于固體、液體、粉末及合金。XRF可以測試廣泛的元素范圍Be(5)~U(92),對許多應(yīng)用程序提供sub-ppm檢測限制。
RIGAKU X射線熒光(XRF)光譜儀
Supermini200、臺式下照射式WDXRF光譜儀分析元素范圍F~U的固體、液體和粉末樣品
NEX QC, NEX QC+、低成本EDXRF元素分析儀測試元素范圍Na~U的固體、液體、粉末和薄膜樣品
ZSX Primus、高功率、下照射式、具有Mapping分析和超輕元素性能的連續(xù)WDXRF光譜儀
Primini Biofuel臺式WDXRF為石油產(chǎn)品中P、S和Cl的sub-ppm檢測限制進行優(yōu)化
NEX CG、高性能、解析幾何EDXRF元素分析儀測試元素范圍Na~U的固體、液體、粉末和薄膜樣品
ZSX Primus II、高功率、上照射式、具有Mapping分析和超輕元素性能的連續(xù)WDXRF光譜儀
Mini-Z Sulfur、ASTM D2622法WDXRF分析儀用于石油燃料和超低硫柴油(ULSD)中的硫(S)分析
NANOHUNTER臺式全反射X射線熒光(TXRF)光譜儀執(zhí)行元素分析直到PPB的水平
Simultix 14、高容許功率、下照射式、多道同時WDXRF光譜儀分析元素范圍Be~U
Mini-Z 系列、質(zhì)量控制應(yīng)用程序的下照射式WDXRF單個元素分析儀
AZX 400、適用于大型樣品、高功率、下照射式、具有Mapping分析的連續(xù)WDXRF光譜儀
ZSX Primus III+、高功率、上照射式、順序WDXRF光譜儀
Micro-Z ULS、Dedicated ultra-low sulfur analyzer for petroleum
RIGAKU 小角X射線散射(SAXS)儀
BioSAXS-2000、小角X射線散射(SAXS)Kratky相機系統(tǒng)
S-MAX3000、小角X射線散射(SAXS)針孔相機系統(tǒng)
Ultima IV、具有SAXS能力的高性能、多功能XRD系統(tǒng)
SmartLab、通過Guidance專家系統(tǒng)軟件支持*的高分辨率XRD/SAXS系統(tǒng)
小角X射線散射(SAXS)是一個小角散射(SAS)技術(shù),通過一個在納米范圍內(nèi)不均勻性的樣品的X射線彈性散射,被記錄在非常小的角度下(通常為0.1-10°)。該角度范圍包含有關(guān)分子形狀和尺寸、半序材料的特征距離、孔隙尺寸以及其它數(shù)據(jù)的信息。SAXS能夠提供從5-25nm的生物大分子的結(jié)構(gòu)信息,高達150nm的半序系統(tǒng)中重復距離。*
RIGAKU蛋白質(zhì)晶體學產(chǎn)品
RIGAKU HomeLab系統(tǒng)
HighFlux HomeLab、大功率生物大分子晶體X射線衍射系統(tǒng)
Ultimate HomeLab、功率生物大分子晶體X射線衍射系統(tǒng)
Phasing HomeLab、鉻相位生物大分子X射線晶體系統(tǒng)
Compact HomeLab、基于緊湊微焦點密封管的X射線晶體系統(tǒng)
Protein Structure Workbench、結(jié)晶化篩選HomeLab™ 系統(tǒng)
X-ray sources and optics
FR-X、高強度微焦點旋轉(zhuǎn)陽極X射線發(fā)生器
MicroMax-007 HF、微焦點旋轉(zhuǎn)陽極X射線發(fā)生器
MicroMax-003、微焦點高強度密封管X射線源
Detectors and SAXS cameras
R-AXIS HTC、高通量、大面積成像板X射線面探測器
R-AXIS IV+、大面積成像板X射線面探測器
PILATUS detectors、用于X射線晶體學的PILATUS混合像素陣列檢測器 (HPAD)
BioSAXS-2000、小角X射線散射(SAXS)Kratky相機系統(tǒng)
S-MAX3000、小角X射線散射(SAXS)針孔相機系統(tǒng)
Optics
VariMax、用于蛋白質(zhì)晶體的單波長Confocal Max-Flux®(CMF)光學器件
VariMax DW、用于蛋白質(zhì)晶體的雙波長Confocal Max-Flux®(CMF)光學器件
RIGAKU附件和軟件
RigakuRemote、衍射實驗的實時遠程監(jiān)
PlateMate、用于結(jié)晶板中樣品的衍射篩選的AFC11適配器
ACTOR、自動晶體傳輸定位和檢索機器人 HKL-3000R、數(shù)據(jù)收集、處理以及結(jié)構(gòu)分析軟件
蛋白質(zhì)晶體學是一個重要的結(jié)構(gòu)生物學技術(shù),提供生命與疾病相關(guān)的蛋白質(zhì)和其它生物大分子的詳細原子分辨率。理學在提供很多級別的用于提高生產(chǎn)力的儀器方面于世界。 — 從制定結(jié)晶化條件、培養(yǎng)晶體到自動安裝晶體和收集高分辨率X射線衍射數(shù)據(jù)集。請選擇一個感興趣的系統(tǒng)或組件,從而找出理學是如何幫助你研究蛋白質(zhì)晶體。
RIGAKU其他產(chǎn)品:
RIGAKU拉曼光譜儀FirstGuard™、Xantus™-2、Xantus Mini™
過程分析儀NEX XT、NEX OL
釋放氣體分析儀 (EGA)TG-DTA/MS
非破壞性測試 (NDT)RV-5030B、CR-1012、Radioflex series
小分子晶體RAPID II、DualSource RAPID II、XtaLAB™ P200、XtaLAB™ mini
結(jié)晶自動化CrystalMation™、Screen makers、Drop setting、Incubation/imaging、Software、Reagents
半導體計量、WaferX 310、WDA-3650、AZX 400、MFM310、TXRF 3760、TXRF 3800e
半導體計量TXRF-450、TXRF-V450、TXRF-310、TXRF-310e、TXRF-V310、VSEE300
其他
應(yīng)力分析儀、真空饋通、X射線檢測器、X射線光學、X射線源
RIGAKU公司其他產(chǎn)品型號:
RIGAKU | 探測器 | 閃爍計數(shù)探測器 NO:5762A2 |
RIGAKU | 電機 | 電機LCZZG-108VB 12VDC35KG.CM RATIO200:1 |
RIGAKU | 電機 | 電機LCZZG-108VB 12VDC35KG.CM RATIO300:1 |
RIGAKU | 開關(guān)扳 | 開關(guān)扳9766-0080H |
RIGAKU | 傳輸板 | 通訊傳輸板9270-0081H |
RIGAKU | 警示燈 | X射線警示燈裝置12V 60MA |
RIGAKU | 燈泡 | 特種燈泡 H-1211 |
RIGAKU | 密封墊 | 試樣室入口位O型密封墊專用件 |
RIGAKU | O型圈 | 試樣室入口位上蓋O型圈專用件 |
RIGAKU | 水壓表 | 水壓表6680-0037DT1/4*50*1MPA |
RIGAKU | 濾器芯 | GLD-200型真空泵配用真空泵過濾器芯 |
RIGAKU | 泵 | GLD-200真空泵(包括配用三相電機) |
RIGAKU | 離子樹脂 | 6680-0025 離子樹脂X熒光光譜分析儀SMX12 |
RIGAKU | 計數(shù)器 | 6411-8200 |
RIGAKU | 光譜計數(shù)器 | 6411-8300 |
RIGAKU | 計數(shù)器 | 6411-8100 |
RIGAKU | 計數(shù)器 | 6411-2400 |
RIGAKU | 計數(shù)器 | 6486-0011 |
RIGAKU | 后窗 | 6486-0024 |
RIGAKU | 備件 | 6480-1008SMX12熒光光譜儀皮帶輪 |
RIGAKU | 備件 | 670-XL-037-U(Timing belt)SMX12光譜儀3199Z007定時皮帶 |
RIGAKU | 備件 | 6480-0022SMX12熒光光譜儀鋯X射線慮光片 |
RIGAKU | 內(nèi)部過濾芯 | LP-100-12-30 |
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