微電泳儀（zeta電位儀）JS94系列介紹
微電泳儀（Zeta電位儀）JS94系列可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測(cè)定顆粒的Zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性?？蓮V泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè)，也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。
首部《膠體顆粒zeta電位分析 電泳法通則》國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布，標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 32668-2016，該國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)于2016年11月1日起實(shí)施。
型號(hào) | 適用體系 | 主要粒徑范圍 （微米） | 顯微光學(xué)系統(tǒng) | 分辨率 |
JS94H | 水性體系 | 0.5~20 | 高倍顯微光學(xué)系統(tǒng) | 4pixel/μm |
JS94H2 | 水性體系和有機(jī)體系 | 0.5~20 | 高倍顯微光學(xué)系統(tǒng) | 4pixel/μm |
JS94J | 水性體系 | 0.1~10 | 日本W(wǎng)KD 高倍顯微光學(xué)系統(tǒng) | 12pixel/μm |
JS94J2 | 水性體系和有機(jī)體系 | 0.1~10 | 日本W(wǎng)KD 高倍顯微光學(xué)系統(tǒng) | 12pixel/μm |
JS94K | 水性體系 | 0.2~50 | 日本連續(xù)變倍光學(xué)系統(tǒng)，適用于更寬范圍顆粒的測(cè)量 | 8pixel/μm |
JS94K2 | 水性體系和有機(jī)體系 | 0.2~50 | 日本連續(xù)變倍光學(xué)系統(tǒng)，適用于更寬范圍顆粒的測(cè)量 | 8pixel/μm |
JS94系列微電泳儀（Zeta電位儀）共性參數(shù)
1、功耗：<150W
2、電源輸入電壓：220V 50Hz
3、適用環(huán)境：防震平臺(tái)
4、適用溫度范圍：室溫到35℃，讀取精度0.1
5、測(cè)數(shù)準(zhǔn)確度：系統(tǒng)誤差在5%以內(nèi)
6、pH范圍：一般應(yīng)用在下2.0～12.0，亦可在1.6～13.0范圍內(nèi)使用
7、工作距離7mm
8、杯型開放式電泳裝置，配套特制電極支架
JS94系列微電泳儀（Zeta電位儀）功能特點(diǎn)
1. 儀器采用新設(shè)計(jì)的新型簡(jiǎn)便的電泳池，采用0.5cm 厚的玻璃杯，電極內(nèi)置在池內(nèi)。電泳杯與內(nèi)置電極經(jīng)精密的微流場(chǎng)計(jì)算、表面處理，組成一套與傳統(tǒng)的電泳池不一樣電泳裝置。測(cè)試時(shí)樣品用量極少，每次僅 0.5ml，易于清洗，使用方便，經(jīng)濟(jì)實(shí)用。
2. 采用經(jīng)過精心設(shè)計(jì)的電極支架，與電泳杯緊密配合，形成一個(gè)杯形開放式電泳裝置，電極采用銀、鉑和鈦金屬絲制成，經(jīng)表面處理后工作狀態(tài)穩(wěn)定。
3. 制作精良的十字標(biāo)，置入電泳杯后放在三維平臺(tái)上，調(diào)整三維平臺(tái)，在計(jì)算機(jī)屏幕看到清晰的十字圖像，便找到測(cè)定位置，沒有靜止層問題。
4. 該電泳儀采用半導(dǎo)體發(fā)光近場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)，功率僅幾十微瓦，不會(huì)因發(fā)熱而影響測(cè)量環(huán)境和測(cè)量精度，并調(diào)整了光學(xué)系統(tǒng) ，加大了放大倍率 ，采用波長(zhǎng)較短的藍(lán)光和綠光，因此可以看清更小的顆粒。
5. 采用恒壓低頻轉(zhuǎn)換電源, 可以防止極化，同時(shí)又可大大提高測(cè)量速度。正負(fù)換向時(shí)間為0.30秒至1.20秒連續(xù)可調(diào)，采樣時(shí)間僅需 3～10秒。電極間電壓可根據(jù)需要調(diào)節(jié)。
6. 采用溫度采樣探頭, 自動(dòng)連續(xù)對(duì)環(huán)境溫度進(jìn)行采樣, 返回計(jì)算機(jī)，自動(dòng)調(diào)整參數(shù)，用于計(jì)算Zeta電位。采用計(jì)算機(jī)多媒體技術(shù), 在給定的節(jié)拍下, 自動(dòng)對(duì)經(jīng)放大1200倍的超細(xì)顆粒連續(xù)“拍照"，提供雙向共四幅灰度圖像進(jìn)行分析計(jì)算。
視頻法測(cè)量zeta電位和激光衍射法測(cè)量zeta電位的優(yōu)缺點(diǎn)
如果需要比較視頻法測(cè)量zeta電位和激光衍射法測(cè)量zeta電位的優(yōu)缺點(diǎn)，參見表2及《精確和準(zhǔn)確——關(guān)于zeta電位兩種測(cè)量方法的討論》。
國(guó)內(nèi)外微電泳儀（zeta電位儀）對(duì)比表（表2） |
Zeta 電位 | JS94系列 | 進(jìn)口（一般為激光衍射法） |
測(cè)量 方法 | 采用視頻測(cè)量技術(shù)，全部分析過程均是“所見即所得"，所以數(shù)據(jù)一定是準(zhǔn)確的，想做錯(cuò)都難，是實(shí)測(cè)值。 | 一般采用激光衍射測(cè)量技術(shù)，“在ISO13320國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中，特別提出如果顆粒粒徑小于幾十微米，需采用米氏理論，輸入正確的樣品折射率和吸收率以便能獲得更為準(zhǔn)確的結(jié)果"。由此可見該類儀器測(cè)量的zeta電位是需要在正確的折射率和吸收率等參數(shù)支持下才能得出的計(jì)算值。 |
測(cè)量 對(duì)象 | 是測(cè)量zeta電位最準(zhǔn)確的儀器，沒有之一。但受其測(cè)量方法限制，只能逐個(gè)觀察帶電顆粒形狀和粒徑，無法生成整個(gè)分散體系的粒徑分布直方圖。 | 是測(cè)量整個(gè)分散體系中粒徑分布直方圖的儀器，但其附帶的測(cè)量zeta電位功能只具有參考意義。 |
適用 范圍 | 由于無需測(cè)量整個(gè)體系的粒徑分布，只需截取部分部分不沉降的帶電顆粒來表征整個(gè)分散體系中帶電顆粒的zeta電位，因此被測(cè)樣品只需有部分帶電顆粒的粒徑在0.1~50微米之間即可。 | “當(dāng)顆粒小到幾百納米時(shí)，其衍射光強(qiáng)對(duì)于角度幾乎失去依賴性"。 |
樣品 準(zhǔn)備 | 樣品無需預(yù)處理，即便情況（比如濃稠不透光樣品）僅需稀釋即可。 | 不少樣品需要按照操作手冊(cè)做預(yù)處理，并事先測(cè)量該樣品正確的折射率和吸收率數(shù)據(jù)，輸入操作軟件以便得到zeta電位的計(jì)算值。 |
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