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高分辨率雙晶X射線衍射儀

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更新時(shí)間：2022-11-28 15:37:49瀏覽次數(shù)：447次

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英國馬爾文儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

帕納科高分辨率x射線衍射儀：高級(jí)材料科學(xué)和納米技術(shù)，半導(dǎo)體材料研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制，可以適用各種應(yīng)用，尤其適合薄膜分析，例如：搖擺曲線分析和倒易空間Mapping，反射率和薄膜相分析，殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析， X'Pert PRO MRD/ XL 滿足半導(dǎo)體、LED、薄膜和高級(jí)工業(yè)材料的所有高分辨XRD分析需要。

詳細(xì)介紹

品牌	PANALYTICAL/帕納科

帕納科高分辨率x射線衍射儀儀器簡介：

X'Pert PRO MRD/XL是高級(jí)半導(dǎo)體材料的標(biāo)準(zhǔn)裝備，用于：高級(jí)材料科學(xué)和納米技術(shù)，半導(dǎo)體材料研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制，可以適用各種應(yīng)用，尤其適合薄膜分析，例如：搖擺曲線分析和倒易空間Mapping，反射率和薄膜相分析，殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析， X'Pert PRO MRD/ XL 滿足半導(dǎo)體、LED、薄膜和高級(jí)工業(yè)材料的所有高分辨XRD分析需要。XL可以滿足直徑達(dá) 300 mm的晶片分析，并有精密的自動(dòng)晶片裝載選擇；XL成為薄膜生產(chǎn)發(fā)展的*的分析手段，LED的業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)。

帕納科高分辨率x射線衍射儀可以適用各種應(yīng)用，尤其適合薄膜分析，例如：

· 振動(dòng)曲線分析和交互空間圖
· 反射儀和薄膜相分析
· 殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析

帕納科高分辨率x射線衍射儀同已經(jīng)證明的標(biāo)準(zhǔn)版本系統(tǒng)一樣，還有許多專門的版本：

· X'Pert PRO MRD平面衍射系統(tǒng)，可以測(cè)量與樣品表面垂直的晶格衍射
· X'Pert PRO Extended MRD 允許裝備 X射線鏡像和在線高分辨單色器，增強(qiáng)入射光束的強(qiáng)度。
· X'Pert PRO MRD XL 滿足半導(dǎo)體，薄膜和高級(jí)工業(yè)材料的所有高分辨XRD分析需要。

帕納科高分辨率x射線衍射儀技術(shù)參數(shù)：
1，功率：3kW
2，測(cè)角儀重現(xiàn)性：0.0001度
3，測(cè)角儀類型：T-2T
4，五維樣品臺(tái)