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納米粒度zeta電位儀

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產品型號omni/omni

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更新時間：2023-06-11 09:39:38瀏覽次數：261次

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束倫（上海）技術服務有限公司

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產品簡介

性能指標采用了的三角度測量模式

詳細介紹

性能指標

采用了的三角度測量模式，可兼顧大、小顆粒的散射光信號有效地提高測量濃度上限，可達40%w/v 硬件PALS技術，可廣泛測定具有低介電常數、高粘度、高鹽度的樣品開放式樣品池避免了交叉污染，可清潔重復使用

主要應用

納米涂料、納米金屬粉、納米陶瓷、納米氧化物、蛋白質、聚合物膠乳、油漆、顏料、油墨以及其它所有納米材料研究、生產與使用等行業(yè)的粒度分布及Zeta電位測試。

樣品要求

1.樣品應該為澄清溶液，溶液中無肉眼可見的絮狀物或漂浮物；樣品在640nm處不吸光，不會發(fā)射熒光。
2.液體樣品濃度不低于0.1mg/mL。
3.粒度樣品體積大于0.2mL，電位樣品體積大于2mL。
4.若溶液使用有機溶劑，在粒度分布測試項目中，請?zhí)崆安殚喸撊軇┑恼凵渎屎驼扯认禂担辉赯eta電位測試項目中，請?zhí)崆安殚喸撊軇┑恼凵渎?，粘度系數和介電常數?
5.做Zeta電位測試時，若液體中含鹽量較高，請?zhí)崆案嬷?
6.儀器自帶升溫設備，溫度變化范圍為-5°~110°

儀器說明