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ED400渦流測(cè)厚儀鋁合金表面氧化膜涂層厚度測(cè)量?jī)x塑料薄膜紙張厚度計(jì)

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ED400型渦流測(cè)厚儀儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度

詳細(xì)介紹

ED400型渦流測(cè)厚儀

儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測(cè)量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。

儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無損的膜厚檢查，可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
儀器符合國(guó)標(biāo)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。

儀器特點(diǎn)

ED400型渦流測(cè)厚儀與ED300型相比，具有如下特點(diǎn)：

● 量程寬 ED400型渦流測(cè)厚儀量程達(dá)到0～500 μm。

● 精度高 測(cè)量精度達(dá)到2%。
● 分辨率高 分辨率達(dá)到0.1 μm。
● 校正簡(jiǎn)便 只校正“0"和“50 μm"兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
● 基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，測(cè)量誤差不大于1～2 μm。
● 可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。
● 穩(wěn)定性提高 采用的溫度補(bǔ)償技術(shù)，測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)

場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
● 探頭芯壽命長(zhǎng) 采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍：	0～500 μm
測(cè)量精度：	0～50 μm：±1 μm；
	50～500 μm：±2%
分辨率：	0～50 μm：0.1 μm；
	50～500 μm：1 μm；
	0～500 μm：1 μm（可選）
使用溫度：	5～45℃
外形尺寸：	150 mm×80 mm×30 mm
重量：	280 g