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四站比表面及孔徑分析儀

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更新時間：2023-09-05 10:01:43瀏覽次數(shù)：150次

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產(chǎn)品簡介

比表面積及孔徑分布，是表征微納米粉體材料表面物性及孔結(jié)構(gòu)的重要參數(shù)之一，常用、可靠的方法是靜態(tài)容量法氣體吸附。JW-BK400系列高通量全自動比表面及孔徑分析儀即能準(zhǔn)確可靠解決粉體材料比表面積及孔徑分析問題，該產(chǎn)品配置4個獨立并列分析站，測試效率超高，可有效解決納米粉體材料的比表面介孔大孔高通量分析問題，滿足中大型企業(yè)多樣品、高效率測試需求。

詳細(xì)介紹

測試原理

低溫條件下（液氮或液氬等），在密閉的真空系統(tǒng)中，改變吸附質(zhì)氣體壓力，通過高精密壓力傳感器測量出樣品吸附氣體分子前后的壓力變化值，進而計算出氣體吸附量，描繪出等溫吸脫附曲線，應(yīng)用各種物理分析模型進行比表面積及孔隙度分析。

產(chǎn)品特點

/ Features

測試原理

冷自由空間

He自動校正，適合任何粉體、顆粒材料

真空脫氣

集同位、異位真空脫氣于一體的標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計，樣品分析的同時，可以進行另外2個樣品不同溫度及時間的異位脫氣處理；分析站可同時進行2個樣品不同溫度及時間的同位脫氣處理材料

真空加熱脫氣機

選配。外置式4站真空脫氣機，可同時進行4個樣品的脫氣預(yù)處理，配合比表面儀主機同時使用，可大大提高測試效率。脫氣溫度400℃；

操作便利，人性化設(shè)計

以太網(wǎng)數(shù)據(jù)采集，向?qū)讲僮鬈浖慌_計算機可同時控制多臺儀器，可遠程控制；

測試模塊

核心設(shè)計，死體積空間Vd小，內(nèi)部溫度Td實時檢測及控制，保證了吸附量測定的科學(xué)性和準(zhǔn)確性；

壓力傳感器

核心部件，高精度電容式薄膜壓力傳感器，使得物理吸附分析中的氣體分壓p/p₀可達10^-4（N2,77K）

液氮面控制

采用3L大容量真空玻璃內(nèi)膽杜瓦瓶、高效封蓋、小內(nèi)截面、軟件修正等綜合控制技術(shù)，使測試過程中樣品管內(nèi)非均勻溫度場保持相對恒定（等溫）

防抽飛

自控可調(diào)式多通道并聯(lián)真空系統(tǒng)，抽真空速度得到精細(xì)的"階梯式"自動控制，防樣品抽飛；同時設(shè)計內(nèi)置式防抽飛單元，將超細(xì)微粉可能被抽飛的可能性降至，可有效避免儀器受到污染

測試界面上動態(tài)顯示每個吸附平衡過程，可清晰了解樣品的吸附特征，監(jiān)控實驗過程，幫助分析異常現(xiàn)象，還通過事件欄和指示燈顯示儀器內(nèi)部動作進程，是的很有使用價值的人性化設(shè)計；

通過測試界面可直觀清晰觀察到歧管內(nèi)部空間壓力及溫度變化，便于儀器維護，也便于簡易測試當(dāng)前大氣壓需要；

測試數(shù)據(jù)自動保存為源文件，支持不聯(lián)機、多文檔同時分析，可拷貝，BET、Langmuir、BJH、t-plots等等十幾種物理吸附分析模型供選擇使用；

預(yù)處理包含隨機獨立式、同位處理式兩種，可按需選擇使用，微型可移動加熱爐，≦400°C±1°C，可實行10段程序控制。設(shè)計；

軟件控制

/ Software

JWGB_BK Software 是在Windows平臺上的實現(xiàn)操作控制、數(shù)據(jù)采集、計算分析和生成報告的智能化軟件，與主機通過LAN口通訊連接，可實現(xiàn)遠程控制。

采用的吸附平衡壓力智能判斷與控制法，吸附、脫附過程壓力分六段優(yōu)化設(shè)置，在保證充分吸附平衡的條件下，測試效率遠高于國外儀器，創(chuàng)造了很有價值的優(yōu)勢完整的物理吸附計算模型供靈活選擇，包括:

-等溫吸脫附曲線；
-BET比表面積（單點、多點）；
-Langmuir表面積；
-外表面積（STSA）；
-BJH孔徑分析；
-t-plot分析；
-DR、DA、MP方法；
-HK孔徑分析；
-SF孔徑分析；
-NLDFT孔徑分布；
-最可幾孔徑、平均孔徑、總孔體積；
-吸附曲線、吸附熱計算，等等；