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X射線衍射儀 XRD-7000

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更新時(shí)間：2023-10-05 10:28:51瀏覽次數(shù)：178次

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上海百賀儀器科技有限公司

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X射線衍射儀 XRD-7000

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品參數(shù) 產(chǎn)品編號(hào): XRD-7000所屬品牌: Leica 產(chǎn)品型號(hào): XRD-7000 額定功率：按實(shí)際方案提供 所屬類別: 光譜儀(ICP/AAS/FTIR/UV)所屬用途: 金相組織觀察 應(yīng)用領(lǐng)域: 產(chǎn)品特性: 易操作、多功能、多用途 下載相關(guān)資料

X射線衍射儀 XRD-7000

易操作、多功能、多用途的X射線衍射儀的新時(shí)代！

Ｘ射線衍射儀可在大氣中無(wú)損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測(cè)定等。并且，可通過(guò)峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析。
可通過(guò)半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精細(xì)Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。

MAXima_X XRD-7000

高精度樣品水平型測(cè)角儀S

配備具有0.0001°較小步進(jìn)的高精度樣品水平型測(cè)角儀。根據(jù)分析目的，可以選擇適合分析大型樣品的Ｌ型（較大350mmφ樣品）和通用的S型。

· XRD-7000系列配備了樣品水平型測(cè)角儀，能夠測(cè)定大型樣品。
· 不但可進(jìn)行定性/定量等基本分析，還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精細(xì)化、結(jié)晶度的計(jì)算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計(jì)算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進(jìn)行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過(guò)追加附件，還可以應(yīng)用于應(yīng)力測(cè)定、樣品加熱過(guò)程的分析、薄膜樣品測(cè)定等。
利用新開(kāi)發(fā)的大型R-θ樣品臺(tái)，可以進(jìn)行350mmφ樣品全表面的自動(dòng)應(yīng)力成圖測(cè)定。