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深圳市吉茂科學(xué)儀器有限公司
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更新時間:2023-08-20 16:56:39瀏覽次數(shù):245次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線使用Agilent7850ICP-MS避免ICP-MS分析中常見的時間陷阱。這一智能方法可減少時間浪費,讓忙碌的工作人員可以專注于更有價值的任務(wù)。7850ICP-MS儀器可以處理固體含量高達25%的樣品,從而減少費時的稀釋步驟。這款儀器具有氦模式碰撞池和半質(zhì)量校正功能,可避免多原子和雙電荷離子干擾,使方法開發(fā)更簡單,并解決了導(dǎo)致費時的樣品重新測量的常見問題。
擺脫工作流程中常見的時間陷阱
使用 Agilent 7850 ICP-MS 避免 ICP-MS 分析中常見的時間陷阱。這一智能方法可減少時間浪費,讓忙碌的工作人員可以專注于更有價值的任務(wù)。7850 ICP-MS 儀器可以處理固體含量高達 25% 的樣品,從而減少費時的稀釋步驟。這款儀器具有氦模式碰撞池和半質(zhì)量校正功能,可避免多原子和雙電荷離子干擾,使方法開發(fā)更簡單,并解決了導(dǎo)致費時的樣品重新測量的常見問題。
了解 Agilent 7850 ICP-MS 儀器如何提高實驗室效率,助您奪回在 ICP-MS 分析中浪費的時間。
特性
工作原理
高基質(zhì)樣品會引起信號漂移并抑制等離子體,導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確,需要重復(fù)分析。7850 的超高基質(zhì)進樣系統(tǒng)使用氬氣流稀釋樣品。無需耗時且容易出錯的手動稀釋即可對基質(zhì)中 TDS 高達 25% 的樣品進行分析。
同時,7850 的氦氣碰撞池和半質(zhì)量校正可自動消除多原子和雙電荷離子干擾。這些功能不僅能簡化方法開發(fā),還能避免導(dǎo)致測量失敗的常見問題。
ICP-MS 實驗室中的 時間陷阱
在常規(guī) ICP-MS 分析工作流程中,一些低效且不必要的事 項(時間陷阱)會嚴(yán)重影響實驗室的生產(chǎn)力和盈利能力。
實驗室為此付出的代價不僅僅是時間和收益。不必要的方法設(shè)置步驟、儀 器檢查、手動數(shù)據(jù)審查和樣品重復(fù)分析會給忙碌的分析人員帶來更多壓 力。高負(fù)荷的工作可能會影響樣品分析周期和報告結(jié)果的質(zhì)量,從而使實 驗室的名譽受到威脅。
全面啟用新儀器通常需要在方法開發(fā)與培訓(xùn)方面進行大量投資。使新儀器 投入使用涉及大量的工作,有時會對業(yè)務(wù)造成延誤或錯過某些機會。 那么,您實驗室中主要的時間陷阱是什么?該如何避免這些陷阱?
主要的時間陷阱
眾多實驗室參與的一項在線調(diào)查1 ,對 10 種常見的 ICP-MS 時間陷阱進行了 排名。下表列出了每種時間陷阱的平均百分比排名。
ICP-MS 新手?
讓您的實驗室
對于新引入 ICP-MS 或安裝了不同 ICP-MS 的實驗室,從儀器安裝 完成到實現(xiàn)高效分析往往存在時間的浪費,讓實驗室倍感苦惱。
在這段時間內(nèi)存在許多可能的時間陷阱,包括新操作人員培訓(xùn)、確定和優(yōu)化方法以 及學(xué)習(xí)維護程序。
在受監(jiān)管分析的實驗室中,這個時間浪費可能更加嚴(yán)重,因為必須完成性能檢查并 記錄培訓(xùn)和操作程序。
縮短對新儀器的學(xué)習(xí)過程
ICP-MS MassHunter 軟件針對常規(guī)工作流程進行了優(yōu)化。用戶界面對關(guān)鍵任務(wù)的信 息和操作進行了優(yōu)先級排序,助您獲得可靠的樣品結(jié)果。日常測量使用簡單易學(xué)的 預(yù)設(shè)模板和工作流程,無需分析人員具備豐富的 ICP-MS 操作經(jīng)驗。 左側(cè)的彩色標(biāo)記條直觀地指示了儀器的運行狀態(tài)。如果要監(jiān)測多臺儀器,此狀態(tài)指 示將十分有用。
可選的 ICP Go 是一種基于瀏覽器的用戶軟件界面,提供了簡化的樣品批處理設(shè)置和控制。它甚至可以 在同一局域網(wǎng)中處于任何位置的移動設(shè)備上使用,非常適用于需要四處走動的分析人員。
用于日常分析的簡化界面
設(shè)置好方法后,可以使用基于瀏覽器的可選 ICP Go 軟件界面簡化常規(guī)批量分析。 ICP Go 簡單易學(xué)、使用方便,使安捷倫 ICP-MS 的操作比以往更輕松。ICP Go 支持 在局域網(wǎng)中使用任意兼容的 Windows、OSX、Android 或 iOS 設(shè)備進行遠(yuǎn)程操作。
減少方法開發(fā)和文檔工作
7850 包括全面開發(fā)的藥物中元素雜質(zhì)分析方法,以及常用 EPA 法規(guī)方法。方法 包括儀器條件、所有分析物信息、內(nèi)標(biāo)、QC 和報告標(biāo)準(zhǔn)。
還提供針對不同基質(zhì)樣品的優(yōu)化方法。只需選擇適當(dāng)?shù)倪M樣參數(shù),輸入樣品標(biāo)簽 和校準(zhǔn)信息,即可開始測量樣品。
7850 隨附預(yù)編寫的日常分析標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程 (SOPs),能夠節(jié)省數(shù)天的文檔編制時 間??梢詫?SOPs 進行修改以適應(yīng)實驗室的工作流程 ― 這樣,您就可以快速地 完成大部分的操作和培訓(xùn)文檔編制工作。
7850 無需基質(zhì)匹配校準(zhǔn)標(biāo)樣或自定義稀釋即可測量高基質(zhì)樣品,為您節(jié)省更多時間。
簡化樣品前處理
例行篩查樣品的基質(zhì),并對其進行稀釋以降低總?cè)芙鈶B(tài)固體 (TDS) 的濃度,是 ICP-MS 分析中較為耗時的步驟。 7850 配備超高基質(zhì)進樣 (UHMI) 系統(tǒng),可以處理高達 25% TDS 的樣品基質(zhì)。該功 能可減少樣品稀釋帶來的工作量,以及滿足對未知來源樣品的篩查需求。UHMI 系統(tǒng)能夠提供高達 100 倍的氣溶膠稀釋,可以輕松地測量海水、食品或土壤消解 液等高基質(zhì)樣品。
一次測量,準(zhǔn)確無誤
ICP-MS 分析失敗會給實驗室造成巨大的時間損失。高基質(zhì)水平的樣品會引起信號 漂移和抑制,以及多原子和雙電荷離子干擾,從而增加實驗的復(fù)雜性。這些問題 會導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確,往往需要重新進行分析。 7850 可自動解決基質(zhì)效應(yīng),以及多原子和雙電荷離子干擾問題,從而簡化分析, 使每個樣品只需進行一次測量。
智能儀器狀態(tài)檢查
及時進行正確維護,避免停機和時間浪費
ICP-MS 維護不足可能導(dǎo)致:
– 意外停機
– 性能下降
– 浪費時間重新測量樣品
另一方面,過于頻繁的維護會浪費時間并增加消耗品成本,同時不會帶來任何實 際效益。
7850 使用早期維護反饋 (EMF) 傳感器和計數(shù)器,根據(jù)運行時間或測量的樣品數(shù) 量確定何時需要維護。交通信號燈式顏色預(yù)警確保您不會錯過任何維護任務(wù)(例 如更換泵管、清潔接口錐或更換真空泵油),但也不會過于頻繁地進行維護。 得到理想維護的 ICP-MS 可提供更出色的性能和穩(wěn)定性,并為實驗室節(jié)省時間和 資金。
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