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GGB射頻/微波探針

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產(chǎn)品型號40A/67A系列

品牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地深圳市

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聯(lián)系方式：葉曉明查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2022-07-07 14:20:03瀏覽次數(shù)：205次

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優(yōu)測國芯電子科技（深圳）有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：11條

所在地區(qū)：廣東深圳市

聯(lián)系人：葉曉明（銷售總監(jiān)）

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產(chǎn)品簡介

測量范圍	DC to 40 GHz	測量精度	輸入衰減 ≤ 0.8db, 反射損耗≧ 18 db
外形尺寸	TBDmm	用途	測試樣品S11和S21

GGB射頻/微波探針
（1）美國GGB原廠產(chǎn)品
（2）可以提供普通款和無磁款（適用在磁場中）
（3）具體指標(biāo)參數(shù)：?測試頻率直流到40GHZ?輸入衰減小于0.8db?反射損耗大于18db?腳間距可以從25到2540微米（腳間距越大，損耗越嚴(yán)重）?測試重復(fù)性優(yōu)于-80db
（4）配合射頻探針臺使用，測試樣品的S11和S21參數(shù)。
（5）深圳工廠常年備有庫存，常用型號一般有現(xiàn)貨。

詳細(xì)介紹

GGB射頻/微波探針

產(chǎn)品特點(diǎn)：

（1）美國GGB原廠

（2）可以提供普通款和無磁款（適用在磁場中）

（3）深圳工廠常年備有庫存，常用型號一般有現(xiàn)貨

（4）詳細(xì)指標(biāo)：

測試頻率范圍： DC to 40 GHz

輸入衰減 ≤ 0.8db

反射損耗≧ 18 db

腳間距:25 to 2540um可選（腳間距越大，損耗越嚴(yán)重）

測試重復(fù)性優(yōu)于-80db

單獨(dú)彈簧加載觸點(diǎn)設(shè)計(jì)

材質(zhì)： BeCu , Tungsten or Nickel tips available

GSG ， SG ， SG ， GSGSG 等可選

同軸設(shè)計(jì)

（5）選型規(guī)則

Example： 40A-GSG-150-P 代表頻率到 40G ， GSG 三個端口，其中 G 與 S 之間的腳間距是 150um ，外形是 P 型。

Model 40- （端口） - （間距） -（外形），其中，外形可選。

GGB射頻/微波探針

射頻探頭.jpg

微信圖片_20211125160151.jpg

優(yōu)測國芯電子科技（深圳）有限公司是一家致力于提供半導(dǎo)體和自動化設(shè)備綜合解決方案的自主創(chuàng)新型技術(shù)企業(yè)。我們集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)于一體，不僅擁有*的生產(chǎn)設(shè)備、加工工藝及品質(zhì)檢測體系，也擁有涉及材料、物理、化學(xué)、微電子、機(jī)械等專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)。現(xiàn)在主營的產(chǎn)品有：4寸、6寸、8寸、12寸手動探針臺、高壓大功率探針臺、真空高低溫探針臺，半自動探針臺，全自動探針臺等，可以完成I-V/C-V測試，脈沖I-V測試，RF/mmW測試，高壓、大電流測試，MEMS、光電器件等測試。專業(yè)的設(shè)計(jì)人員也可以按客戶的要求量身定制，如搭配光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)、太陽能發(fā)生器、多普勒測試儀、積分球等，在常規(guī)探針臺功能上進(jìn)行延伸拓展來滿足不同客戶的測試需求。