電子元器件高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱是科文KW-GD系列里的一款高低溫可靠性試驗(yàn)箱，用于測(cè)試各類電子產(chǎn)品，電子元器件在高溫，低溫，高低溫恒溫，高低溫循環(huán)，高低溫交變等溫度環(huán)境下使用或儲(chǔ)存時(shí)產(chǎn)品的適應(yīng)性及可靠性能

詳細(xì)介紹

電子元器件高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱是科文KW-GD系列里的一款高低溫可靠性試驗(yàn)箱，用于測(cè)試各類電子產(chǎn)品，電子元器件在高溫，低溫，高低溫恒溫，高低溫循環(huán)，高低溫交變等溫度環(huán)境下使用或儲(chǔ)存時(shí)產(chǎn)品的適應(yīng)性及可靠性能。東莞市科文試驗(yàn)設(shè)備主要生產(chǎn)的可靠性測(cè)試設(shè)備包括：高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱，可程式高低溫試驗(yàn)箱，恒溫恒濕試驗(yàn)箱，高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱，高溫老化試驗(yàn)箱，紫外線老化試驗(yàn)箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱，快速溫度變化試驗(yàn)箱，步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室，步入式高低溫試驗(yàn)室，高溫老化房，振動(dòng)臺(tái)，跌落機(jī)，拉力機(jī)等試驗(yàn)設(shè)備。

高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

GJB150.3 高溫試驗(yàn)

GJB150.4 低溫試驗(yàn)

GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-2001 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法

IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

電子元器件高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱廣泛用于電子元器件、電子產(chǎn)品、電子、電工、電感、電池、二極管、電器、光電、光伏、光纖、電容器、電阻、電腦、電線、電纜、通訊設(shè)備、太陽(yáng)能組件、通訊、數(shù)碼產(chǎn)品、PCB、PCB電路板、PCB線路板、FPC、塑膠、橡膠、化工、涂料、油墨、油漆、醫(yī)藥、建材、汽車、膠粘、印刷、陶瓷、五金、航空、航天、、高分子材料、合成材料、LED半導(dǎo)體、LED光電、LED照明、LED燈柱、LED電源、LED模組、LED模塊、LED顯示屏、LED燈泡、LED日光燈、LED芯片、LED電視、LED顯示器、LED數(shù)碼管、LCD、LCD模組、LCD液晶屏、LCD觸摸屏、LCD顯示器、汽車、船舶等產(chǎn)品及零部件。

關(guān)鍵詞：電子元器件試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱恒溫恒濕試驗(yàn)箱

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