上下移動的溫度沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。本箱用來測試復(fù)合材料及材料結(jié)構(gòu)，在瞬間下經(jīng)及高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，即以在最短時間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。此設(shè)備所應(yīng)用的行業(yè)非常廣泛，基本上有關(guān)工業(yè)產(chǎn)品都有用到，涉及的行業(yè)數(shù)不勝數(shù)。

本設(shè)備適用的對象包括金屬、塑料、橡膠、電子 等材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

上下移動的溫度沖擊試驗(yàn)箱的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及執(zhí)行方法：

GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；

GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn)；

GJB/T 150.4-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn)；

GJB/T 150.5-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分 溫度沖擊試驗(yàn)。