儀器簡介：

ZSX Primus Ⅳ是理學(xué)公司全新奉獻(xiàn)的上照射式X射線熒光光譜儀,因采用了新型分光晶體,使輕元素分析(如C,B)靈敏度大幅度提高。超輕元素對(duì)應(yīng)X射線光管,大功率4千瓦,薄窗,適合輕元素分析。48樣品臺(tái),節(jié)省空間.1次濾波片,可去掉來自光管的特征譜線,減低背景。雙真空,雙泵設(shè)計(jì),節(jié)省抽真空時(shí)間。防粉塵附件,可防止粉末掉入真空泵。微區(qū)分析可達(dá)500，適合少量樣品分析。
軟件在原有的SQX軟件基礎(chǔ)上進(jìn)一步完善,采用對(duì)話方式,進(jìn)行EZ掃描。應(yīng)用模板,可將各種測試條件,以及前處理順序設(shè)置其中。FP無標(biāo)樣分析,是理學(xué)公司多年來總結(jié)出的一套很好的分析方法,不設(shè)定測試成分也能準(zhǔn)確分析。流程條,按順序顯示測試處理內(nèi)容。

技術(shù)參數(shù)：

硬件：
1. 對(duì)應(yīng)超輕元素的X射線光管：采用4kW、30μm薄窗X射線光管，可高靈敏度測試超輕元素。
2. 采用新型光學(xué)系統(tǒng)：采用新型分光晶體，與第二代儀器分光晶體相比，大幅度提高了靈敏度。
3. 48樣品交換器：實(shí)現(xiàn)平臺(tái)式共享化，可放置48個(gè)樣品，多樣品交換器實(shí)現(xiàn)了省空間。
4. 1次X射線濾光片：除去X射線光管的特征X射線光譜，在減低背景干擾方面發(fā)揮威力。
5. 雙泵、雙真空系統(tǒng)：采用雙真空系統(tǒng)（樣品室/預(yù)抽真空室）；防止粉末樣品的細(xì)微粉塵混入光學(xué)系統(tǒng)的 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，樣品交換實(shí)現(xiàn)更高效率。
6. 粉末附件：電磁閥真空密封、防止細(xì)微粉塵進(jìn)入真空泵內(nèi)。
7.定點(diǎn)分析：
100μm的Mapping分辨率?？稍贑CD圖像上點(diǎn)、區(qū)域、線。定點(diǎn) 小直徑500μm。
采用r-θ樣品臺(tái)，避免1次X射線的照射面、以及分光晶體的反射強(qiáng)度的干擾，可得到很佳靈敏度分析結(jié)果。(無r-θ樣品臺(tái)) 節(jié)能、節(jié)省空間、節(jié)能功能（自動(dòng)減少X射線光管輸出）減少冷卻水量5L/min（水溫30以下）PR氣體流量減少（5mL/min）省空間。采用聯(lián)體設(shè)計(jì)，設(shè)置面積只占傳統(tǒng)儀器70%的空間。便于維護(hù)PAS脈沖高度自動(dòng)調(diào)整 F-PC芯線自動(dòng)清洗。

軟件：
1. 新版SQX軟件：在RIGAKU的基本參數(shù)法技術(shù)的基礎(chǔ)上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。
2. 委托分析EZ掃描：采用對(duì)話框形式設(shè)定，可進(jìn)行SQX分析。
3. 定角測試模式：微量元素，采用譜峰和扣背景以一定時(shí)間記數(shù)方法，使用抑制統(tǒng)計(jì)變動(dòng)的X射線強(qiáng)度，算出分析值。自動(dòng)設(shè)定每個(gè)樣品變化扣背景的位置。
4. 應(yīng)用模板 ：各種測試條件以及樣品前處理順序均設(shè)置其中。
5. 散射線FP法：
不需設(shè)定非測試成分，也可以準(zhǔn)確分析。散射線強(qiáng)度計(jì)算，可以考慮幾何學(xué)效果，沒有樣品量信息也可準(zhǔn)確分析。不易加壓成形的樣品以及油狀樣品，使用SQX軟件，可以簡單、準(zhǔn)確地進(jìn)行分析。