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納米粒度及zeta電位儀

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產(chǎn)品型號Nanotrac wave II

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更新時(shí)間：2022-07-12 13:32:59瀏覽次數(shù)：362次

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產(chǎn)品簡介

納米粒度及zeta電位儀

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品詳情

公司介紹：

美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）是*的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商，其*的激光粒度分析儀已廣泛應(yīng)用于水泥，磨料，冶金，制藥，石油，石化，陶瓷，等領(lǐng)域，并成為眾多行業(yè)的質(zhì)量檢測和控制的分析儀器。Microtrac Inc.公司非常注重技術(shù)創(chuàng)新，近半個(gè)世紀(jì)以來，一直著激光粒度分析的前沿技術(shù)，可靠的產(chǎn)品和強(qiáng)大的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù)，使得其不斷超越自我，推陳。

Microtrac在在線顆粒大小和形狀測量方面有超過25年經(jīng)驗(yàn)，了解過程加工環(huán)境的所有需求，在線測量的好處就是讓操作者能實(shí)時(shí)的看到過程的變化，使他們立即作出反應(yīng)，得到高質(zhì)量的產(chǎn)品。

儀器簡介：

納米粒度測量——?jiǎng)討B(tài)光背散射技術(shù)

隨著顆粒粒徑的減小，例如分子級別的大小，顆粒對光的散射效率急劇降低，使得經(jīng)典動態(tài)光散射技術(shù)的自相關(guān)檢測（PCS）變得更加不確定。40多年來，Microtrac公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度測量中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，超細(xì)顆粒分析儀器 UPA（UltrafineParticle Analyzer）研發(fā)成功，*引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念，快速準(zhǔn)確地得到被測體系的納米粒度分布。2001年，利用背散射（Back-scattered）和異相多譜勒頻移（HeterodyneDoppler Frequency Shifts）技術(shù)，結(jié)合動態(tài)光散射理論和*的數(shù)學(xué)處理模型，NPA150/250將分析范圍延伸至0.3nm-10μm,樣品濃度更可高達(dá)百分之四十，基本實(shí)現(xiàn)樣品的原位檢測。異相多普勒頻移技術(shù)采用可控參考穩(wěn)定頻率，直接比照因顆粒的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生的頻率漂移，綜合考慮被測體系的實(shí)時(shí)溫度和粘度，較之于傳統(tǒng)的自相關(guān)技術(shù)，信號強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級。另外，新型“Y"型梯度光纖探針的使用，實(shí)現(xiàn)了對樣品的直接測量，*的減少了背景噪音，提高了儀器的分辨率。

Zeta電位測量：

美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨(dú)到見解，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究，開發(fā)出一代Nanotrac wave II微電場分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，Nanotrac wave II采用*的“Y"型光纖探針光路設(shè)計(jì)，配置膜電極產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，*消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學(xué)信號的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠，重現(xiàn)性好。

測量原理：

粒度測量：動態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理

Zeta電位測量：膜電極設(shè)計(jì)與“Y"型探頭形成微電場測量電泳遷移率

分子量測量：水力直徑或德拜曲線

光學(xué)系統(tǒng)：

3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器，通過梯度步進(jìn)光纖直接照射樣品，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號，無需校正光路

軟件系統(tǒng)：

*的Microtrac FLEX軟件提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力，包括圖形，數(shù)據(jù)輸出/輸入，個(gè)性化輸出報(bào)告，及各種文字處理功能，如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù)，Microsoft Access格式（OLE）等。體積，數(shù)量，面積及光強(qiáng)分布，包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保護(hù)，電子簽名和*等。

外部環(huán)境：

電源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz

環(huán)境要求：溫度，10-35°C

標(biāo)準(zhǔn)：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

主要特點(diǎn)：

? 采用的動態(tài)光散射技術(shù)，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法

? 的“Y"型光纖光路系統(tǒng)，通過藍(lán)寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下，與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場，測量同一體系的Zeta電位，避免樣品交叉污染與濃度變化。

? 的異相多譜勒頻移技術(shù)，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級，提高分析結(jié)果的可靠性。

? 的可控參比方法（CRM），能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度。

? 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性。

? 的快速傅利葉變換算法（FFT，F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時(shí)間。

? 膜電極設(shè)計(jì)，避免產(chǎn)生熱效應(yīng)，能準(zhǔn)確測量顆粒電泳速度。

? 無需比色皿，毛細(xì)管電泳池或外加電極池，僅需點(diǎn)擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果

? 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質(zhì)的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。

納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II

產(chǎn)品參數(shù)

粒度分析范圍	0.3nm-10µm
重現(xiàn)性	誤差≤1%
濃度范圍	100ppb-40%w/v
檢測角度	180°
分析時(shí)間	30-120秒
準(zhǔn)確性	全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子
測量精度	無需預(yù)選，依據(jù)實(shí)際測量結(jié)果，自動生成單峰/多峰分布結(jié)果
理論設(shè)計(jì)溫度	0-90℃，可以進(jìn)行程序升溫或降溫
兼容性	水相和有機(jī)相