FCP磁場控制平臺

FCP磁場控制平臺   物性測試儀器  

產(chǎn)品概述：

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FCP磁場控制平臺是根據(jù)磁控原理設(shè)計(jì)的理想磁測量系統(tǒng)，磁場范圍超過3T，利用TESTIK475高斯計(jì)穩(wěn)定磁場控制，適合各系列電磁鐵配置，連續(xù)可變的電磁氣隙，實(shí)心的和光學(xué)入口極帽，線型雙極，真實(shí)四象限電磁鐵電源。

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控制特征：

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TESTIK475型高斯計(jì)努力保持確切的磁場密度，用戶輸入的控制設(shè)定點(diǎn)，用G、T、Oe、A/m來表示。為了這北京錦正茂的電磁鐵磁場控制平臺集成了硬件和控制部件來形成一個(gè)變化的磁場平臺，可以被獨(dú)立的被利用或做為用戶設(shè)計(jì)的測量系統(tǒng)的一個(gè)基礎(chǔ)。

※ 磁場控制平臺包括錦正茂公司的電磁鐵、雙極電源、具有控制能力的DSP技術(shù)的高斯計(jì)、霍爾探頭及支架等。 錦正茂提供的磁場控制平臺具有不同的配制用來滿足在磁場強(qiáng)度、磁場均勻性、樣品尺寸、自定義測量要求等基礎(chǔ)之上的用戶要求。可以獨(dú)立的形成用戶所需要的不同磁場強(qiáng)度的可變磁場。廣泛用于磁光測量系統(tǒng)、VSM測量系統(tǒng)、在線退火、霍爾效應(yīng)、磁化率測量、自旋磁共振、B-H曲線測量和傳感器校準(zhǔn)等領(lǐng)域。

樣做，475高斯計(jì)從高斯計(jì)霍爾探頭得到反饋來計(jì)算并調(diào)整控制（模擬）輸出。為了更大程度實(shí)現(xiàn)控制的穩(wěn)定性，475型高斯計(jì)每33毫秒更新模擬輸出。結(jié)果是一個(gè)內(nèi)置的PI 控制器提供了峰值-到-峰值的0.5 G*的磁場穩(wěn)定性。

※ 當(dāng)設(shè)定點(diǎn)速率激活的時(shí)候，儀器會開始從當(dāng)前磁場讀數(shù)加速而不是當(dāng)前設(shè)定點(diǎn)，基于對P和I的設(shè)定。另外，475高斯計(jì)能設(shè)定速率來控制設(shè)定點(diǎn)，從當(dāng)前磁場讀數(shù)到一個(gè)新的值，使用一個(gè)磁場中平滑線性變換而不是瞬態(tài)特性的PI控制。

※ 開環(huán)磁場控制也可能用手動(dòng)輸出來使用475模擬輸出，這意味著忽視了反饋并且模擬輸出停留在手動(dòng)用戶調(diào)整。這個(gè)方法使磁體電源操作處于恒定電流模式。

※ 475也包含了用戶可設(shè)定的控制斜率限制和模擬輸出電壓限制。這些軟件限制保證了磁體電源如果磁場控制系統(tǒng)遭到不合適的調(diào)整或開始擺動(dòng)而不會損壞。

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FCP磁場控制平臺標(biāo)準(zhǔn)配置：

TESTIK475有1個(gè)計(jì)算機(jī)接口：RS-232串口:。這個(gè)接口可以設(shè)置所有儀器參數(shù)和測量值得讀回。在磁場控制期間，接口的讀數(shù)率是額定每秒30個(gè)讀數(shù)。475的LabVIEW驅(qū)動(dòng)是提供的（選配）。磁場控制平臺不含應(yīng)用軟件。

北京市豐臺區(qū)紀(jì)家廟8號21號樓125號