XDV-SDD臺(tái)式測(cè)厚儀

XDV-SDD型儀器是FISCHER產(chǎn)品中性能較強(qiáng)大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測(cè)器（SDD）。50mm²的探測(cè)器窗口確保能快速而精確地測(cè)量甚至是小面積的測(cè)量點(diǎn)。此外，儀器還配備了各種不同的濾波片，從而能為不同的測(cè)量任務(wù)建立優(yōu)化的激發(fā)條件。

特點(diǎn)：

·         配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測(cè)器（SDD），能高精度地測(cè)量較薄的鍍層

·         耐用的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，能以出色的*穩(wěn)定性用于連續(xù)測(cè)量

·         可編程XY平臺(tái)和Z軸，用于自動(dòng)化連續(xù)測(cè)量

·         擁有實(shí)時(shí)的視頻顯示和輔助激光點(diǎn)，使得樣品定位變得快速而簡(jiǎn)便

臺(tái)式測(cè)厚儀應(yīng)用：

鍍層厚度測(cè)量

·         測(cè)量薄鍍層，如電子和半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層

·         測(cè)量汽車制造業(yè)中的硬質(zhì)涂層

·         光伏產(chǎn)業(yè)中的鍍層厚度測(cè)量

材料分析

·         電子、包裝和消費(fèi)品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對(duì)有害物質(zhì)（如重金屬）進(jìn)行鑒別

·         分析黃金和其他貴金屬及其合金

·         測(cè)定功能性鍍層的組分，如NiP鍍層中的P含量

蘇州優(yōu)儀惠測(cè)儀器有限公司經(jīng)過(guò)長(zhǎng)年的實(shí)踐積累，廣泛的廠家合作，具備了一支在材料分析儀器領(lǐng)域從業(yè)多年的專家隊(duì)伍，能為客戶提供售前咨詢、設(shè)計(jì)選型、安裝調(diào)試、售后保障等一站式服務(wù)。主要服務(wù)產(chǎn)品有：手持式光譜儀、火花直讀光譜儀、材料拉伸試驗(yàn)機(jī)、沖擊試驗(yàn)機(jī)，試驗(yàn)機(jī)，三坐標(biāo)，金相顯微鏡等產(chǎn)品。