產(chǎn)品概述：
TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀匯集時(shí)代公司26年超聲儀器設(shè)計(jì)、制造經(jīng)驗(yàn)而研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品，能夠快速、無損傷、**地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷如裂紋、焊縫、 氣孔、砂眼、夾雜、折疊等的檢測(cè)、定位及對(duì)缺陷的定量和定性，廣泛應(yīng)用于電力、石化、鍋爐壓力容器、鋼結(jié)構(gòu)、、航空航天、鐵路交通、汽車、機(jī)械等領(lǐng)域。
TIME1130 超聲波探傷儀 相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：
本儀器涉及到的超聲波探傷國家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)有：
-GB/T 12604.1-2005 無損檢測(cè) 術(shù)語 超聲檢測(cè)
-JB/T 10061-1999 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件
-JJG 746-2004 超聲探傷儀檢定規(guī)程
-GB/T 11345-1989鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí)
-JB/T 4730.3-2005 承壓設(shè)備無損檢測(cè) 第3部分：超聲檢測(cè)
-JG/T 203-2007鋼結(jié)構(gòu)超聲波探傷及質(zhì)量分級(jí)法，代替JG/T 3034-1996
-SY/T 4109-2005 石油天然氣鋼制管道無損檢測(cè)，代替SY/T 0443-1998，SY/T 0444-1998，SY/T 4056-1993，SY/T 4065-1993
TIME1130 超聲波探傷儀 功能特點(diǎn):
- *新開發(fā)的、采用國內(nèi)業(yè)界*的可調(diào)方波激勵(lì)技術(shù)，內(nèi)置帶有可調(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能“方波脈沖發(fā)生器"，實(shí)現(xiàn)與探頭的*佳匹配，對(duì)檢測(cè)高衰減材料或厚工件具有優(yōu)良的穿透力和信噪比；而對(duì)檢測(cè)薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率。
- 的電路設(shè)計(jì)，采用12bits 80MHz采樣片，配合5.7"TFT （640x480）高分辨率彩色液晶顯示屏，確保能快速、準(zhǔn)確地對(duì)缺陷的回波信號(hào)進(jìn)行顯示和分析，對(duì)各種弱小信號(hào)的變化和細(xì)節(jié)都能及時(shí)響應(yīng)，回波信號(hào)的實(shí)時(shí)性和真實(shí)性得到有效的保證，對(duì)缺陷性質(zhì)的分析和判斷極為有利。（下圖為全波顯示和射頻顯示）
- 支持動(dòng)態(tài)錄像功能，可記錄4個(gè)動(dòng)態(tài)記錄文件，每個(gè)文件可以以16幀/秒的速度記錄2分鐘實(shí)時(shí)波形?？赏饨覷盤存貯到4個(gè)文件，每個(gè)文件半個(gè)小時(shí)，通道保存、通道存儲(chǔ)菜單化操作，大大方便數(shù)據(jù)的分析存儲(chǔ)（見下圖）。
- 支持灰度B掃功能，可顯示截面灰度B掃描，一個(gè)屏幕顯示豐富信息量，可用于簡單TOFD應(yīng)用。（下圖為灰度B掃功能顯示圖）
- 豐富的波形凍結(jié)功能，波形凍結(jié)功能包括峰值顯示、波形比較、波形包絡(luò)等功能，還具有定時(shí)釋放能力，大大方便用戶操作。
- 機(jī)器嚴(yán)格符合歐標(biāo)En12668-1的標(biāo)準(zhǔn)要求。
- 內(nèi)置國內(nèi)主要4個(gè)探傷標(biāo)準(zhǔn)，可直接通過選取標(biāo)準(zhǔn)、試塊、探傷等級(jí)自動(dòng)設(shè)置DAC曲線的三線偏移量，內(nèi)帶“美國鋼結(jié)構(gòu)焊接規(guī)范焊縫分級(jí)AWS D1.1"評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)，使檢測(cè)更加得心應(yīng)手，方便現(xiàn)場(chǎng)使用。（下圖為DAC曲線圖）
探傷功能
波峰記憶：實(shí)時(shí)檢索缺陷*高波，標(biāo)定缺陷*大值
實(shí)用AVG：實(shí)用AVG曲線、自動(dòng)換算缺陷φ值(X>3N，N為近場(chǎng)距離)
動(dòng)態(tài)記錄：檢測(cè)實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄波形，存儲(chǔ)、回放
缺陷定位：實(shí)顯水平值P、深度值D、聲程值S
缺陷定量：實(shí)顯SL定量值（DAC曲線實(shí)時(shí)定量）
缺陷定性：通過包絡(luò)波形，人工經(jīng)驗(yàn)判斷
曲面修正：曲面工件探傷，修正曲率換算
灰度B掃描：實(shí)時(shí)掃查，描述缺陷橫切面
技術(shù)參數(shù)：
| 基本 |
| 測(cè)量單位 | mm、inch、ms |
| 掃描范圍（mm） | 零界面入射～10000 |
| 聲速調(diào)節(jié)（m/s） | 600～16000 |
| 探頭延遲（μs） | -1.000～750.000 |
| 顯示延遲（μs） | -20～ 3400 |
| 工作方式 | 單探頭、雙探頭、透射 |
| 波形顯示方式 | A掃描顯示、灰度B掃描顯示、AB掃描同時(shí)顯示 |
| 脈沖發(fā)生器 |
| 脈沖形式 | 模擬方波 |
| 發(fā)射電源（V） | 100～400，10V步距可調(diào) |
| 發(fā)射脈寬（ns） | 75、100～500，50ns步距可調(diào) |
| 探頭阻尼(Ω) | 50、100、200、500 |
| 發(fā)射重復(fù)頻率(Hz) | 10～1000 |
| 接收器 |
| 增益（dB） | 0～110 分0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、6.0、12.0可調(diào) |
| 總帶寬（MHz） | 0.5～20 |
| 檢波方式 | 正半波、負(fù)半波、全波、射頻 |
| 垂直線性誤差 | ±2% |
| 放大器精度（dB） | ±1 |
| 抑制（%） | 屏高的0～80 |
| 采樣速率（MHz） | 單片80 12bits |
| 發(fā)射串?dāng)_抑制（dB） | ≥80 |
| 動(dòng)態(tài)范圍（dB） | ≥40 |
| 瞬時(shí)分辨力（dB） | ≥32 |
| 水平線性誤差 | ≤0.1% |
| 靈敏度余量 | ≥62dB |
| 測(cè)量 |
| 測(cè)量閘門 | 2個(gè)獨(dú)立測(cè)量閘門 |
| 檢測(cè)方式 | 邊沿、峰值 |
| 閘門測(cè)量 | 回波的幅值、聲程、深度、投影等 |
| 凍結(jié) | 凍結(jié)方式有：全凍結(jié)、峰值、比較、包絡(luò)等方式 |
| AVG當(dāng)量計(jì)算 | 根據(jù)缺陷回波和AVG曲線自動(dòng)計(jì)算缺陷當(dāng)量評(píng)估 |
| DAC缺陷定量 | 根據(jù)缺陷回波和DAC 曲線對(duì)缺陷進(jìn)行評(píng)估 |
| 閘門邏輯 | 關(guān)、測(cè)量、進(jìn)波報(bào)警、失波報(bào)警 |
| 閘門報(bào)警 | 關(guān)、即時(shí)、保持.2s、保持.5s、保持1s、保持2s、鎖存 |
| 報(bào)警蜂鳴 | 關(guān)、開 |
| 數(shù)據(jù)管理，通信及打印 |
| 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 50個(gè)探傷參數(shù)通道記錄 |
| 1000幅波形圖 |
| （包括980幅A掃描波形和20幅B掃描波形） |
| 4x2000幀的動(dòng)態(tài)波形 |
| 數(shù)據(jù)管理 | 實(shí)現(xiàn)對(duì)通道、波形、動(dòng)態(tài)記錄的存儲(chǔ)、查看、回放操作 |
| 上述均可存儲(chǔ)到本地或U盤 |
| 通信 | 通過USB接口與PC機(jī)通信 |
| 輸出接口 |
| USB OTG接口 | USB2.0 Device 與PC機(jī)通訊接口 |
| USB2.0 Host 接U盤 |
| 其它 |
| 產(chǎn)品重量（kg） | 約1.6 |
| 產(chǎn)品外型尺寸（mm） | 300×180×58（不帶遮光罩） |
| 工作溫度（℃） | -10～ 50 |
| 存儲(chǔ)溫度（℃） | -20～ 60 |
| 語言 | 英語、中文 |
| 探頭連接 | LEMO 或BNC |
| 電池容量（mAh） | 聚合物電池2×3.7V 5000mAh |
| 電池工作時(shí)間（h） | 不低于8 |
| 充電時(shí)間（h） | 不超過8 |
| 電源適配器 | 輸入100-240～50/60Hz |
| 輸出9V DC/3 A～4A |
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