1 MHz ～ 3 GHz射頻LCR測(cè)試儀

是德Kesight E4982A 1MHZ-3GHZ LCR測(cè)試儀

一，簡(jiǎn)單描述：

產(chǎn)品名稱(chēng)： LCR 表

品　　牌：是德科技

產(chǎn)品型號(hào)： E4982A

頻率范圍: 1 MHz ～ 300M 1 MHz ～ 500M 1 MHz ～ 1G 1 MHz ～ 3G

詳細(xì)介紹

1 MHz ～ 3 GHz射頻LCR測(cè)試儀

是德Kesight E4982A 1MHZ-3GHZ LCR測(cè)試儀

一，簡(jiǎn)單描述：

產(chǎn)品名稱(chēng)： LCR 表

品　　牌：是德科技

產(chǎn)品型號(hào)： E4982A

頻率范圍: 1 MHz ～ 300M 1 MHz ～ 500M 1 MHz ～ 1G 1 MHz ～ 3G

1 MHz ～ 3 GHz射頻LCR測(cè)試儀

二，主要特性與技術(shù)指標(biāo)：

頻率

1 MHz ～ 300 MHz / 500 MHz / 1 GHz / 3 GHz，可升級(jí)

測(cè)量時(shí)間

高速測(cè)量：0.9 ms（模式 1）、2.1 ms（模式 2）、3.7 ms（模式 3）

基本的精度和阻抗范圍

0.8% 的基本精度的測(cè)量可重復(fù)性

寬阻抗測(cè)量范圍：140 mΩ ～ 4.8 kΩ

更多特性

SCPI 命令和處理器接口與 4287A 兼容

小巧的測(cè)試頭（與 4287A 的尺寸相同）

列表測(cè)量

通用 PC連通性（GPIB、LAN 和 USB）

三，描述：

E4982A LCR 表可為 SMD 電感器、EMI 濾波器等無(wú)源元器件的制造測(cè)試提供性能，其中需要在高頻率上進(jìn)行阻抗測(cè)試（1 MHz ～ 3 GHz）。除了制造測(cè)試之外，E4982A 還可用于研發(fā)領(lǐng)域，借助強(qiáng)大的功能（例如列表測(cè)量）提供質(zhì)量保證。

4287A 1 MHz 至 3 GHz/3端口LCR表

一.簡(jiǎn)單介紹：

品　　牌： Agilent/HP

產(chǎn)品型號(hào)： 4287A

產(chǎn)品指標(biāo)： 1MHz-3GHz

產(chǎn)品信息： Agilent4287A射頻LCR測(cè)試儀,該產(chǎn)品的可替代產(chǎn)品:E4982A LCR 表，1 MHz ～ 3 GHz

二.主要特性與技術(shù)指標(biāo)：

頻率

1 MHz至3 GHz，100 kHz步進(jìn)

測(cè)量范圍

寬阻抗測(cè)量范圍：200 m ohm至3 k ohm

基本測(cè)量精度

1%基本精度

更多特性

在低測(cè)試信號(hào)電平時(shí)優(yōu)異的測(cè)量可重復(fù)性

高速測(cè)量： 9 ms

三，描述：

Agilent 4287A RF LCR表提供從1MHz至3GHz的精確、可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線(xiàn)中電子元件測(cè)試的質(zhì)量和吞吐率。Agilent 4287A使用的不是反射測(cè)量技術(shù)，而是直接電流、電壓測(cè)量技術(shù)，能在寬阻抗范圍實(shí)現(xiàn)精確的測(cè)量。