微觀掃描儀的優(yōu)點有：

三種儀器合而為一

系統(tǒng)設計適用于從平滑到非常粗糙，從漿到紙板的各種表面的灰塵探測

快速，高精度的自動測試

根據(jù)ISO9000追蹤標準進行自動校準

數(shù)字化映像的顯示、存儲和打印

支持其他軟件

微型掃描儀曾用于：

紙 輪轉(zhuǎn)凹版印刷紙 靜電復印紙 高級紙張　　卷煙紙

膠版紙 瓦楞介質(zhì) 衛(wèi)生紙 麻紙 紙巾 墊板 手抄紙

硬件說明

連續(xù)狀態(tài)256色灰度CCD成像機與一臺高速的計算機相接。可掃描及分析的平面范圍為12cm²。樣品光源是用于反射測試（灰塵和印刷不均勻性）的圓形漫射熒光燈 (380nm?。?/span>740nm)，及用于透射樣本（成型）的帶反饋控制的漫射石英鹵燈。反饋控制自動調(diào)整光源強度以適應大范圍定量變化。TAPPI/CPPA相等黑色區(qū)域的灰塵定標標準包含在內(nèi)。

塵埃分析

根據(jù)TAPPI方法T563和CPPA標準D.35.P“通過映像分析測量可見塵埃”的規(guī)定，塵埃分析就是獲取相等黑色區(qū)域（EBA）值。這是利用漫射白光和局部探測臨界點消除陰影補償而獲得的，并且是與紙張亮度、勻度和表面粗糙度相對獨立的。測試結(jié)果同時報告塵埃的物理面積（>0.007mm²）和EBA（>0.010mm²）。測試結(jié)果包括：

1. 探測到的污點數(shù)
2. 平均污點尺寸 (mm²)
3. PPM (mm²/m²)
4. 計數(shù)不穩(wěn)定性
5. 污點尺寸分布直方圖
6. 碎片數(shù)/m²

臨界點設置是自動進行的，且符合TAPPI和CPPA方法。含TAPPI /CPPA/ISO的相關(guān)黑色區(qū)域的塵埃校準標準。

勻度分析

利用漫射透射光分析在不同光密度（OD）條件下的定量從15g/m²衛(wèi)生紙到500g/m²漂白紙板的紙樣，帶紅外過濾的光學系統(tǒng)與CCD傳感器具有同樣的靈敏度。測試結(jié)果包括：

1. 云彩花間的密度對比度
2. 云彩花比周長
3. 基于云彩花尺寸和對比度的勻度指數(shù)
4. 可調(diào)云彩花尺寸分布直方圖
5. CD方向概觀

印刷均勻性分析

印刷勻性分析采用與勻度分析相同的方式分析密度變化情況，只是光源改為反射光。主要有以下應用：

1. 印刷斑點
2. KN油墨測試
3. 石墨摩擦分析
4. “透明點”掛面板分析

透射光對立面

透射光對立面探測非暗即亮。暗對立面如不透明體沾染物；亮對立面如針孔和透明點。結(jié)果的報告方式與物理灰塵分析一樣。

選項

激光打印機

TAPPI/British 手抄紙自動旋轉(zhuǎn)架

X-Y支架