高頻絕緣介電常數(shù)測(cè)量?jī)x帶升降高溫測(cè)試平臺(tái)是為高溫材料電性能測(cè)試專門設(shè)計(jì)的高溫環(huán)境。包括高溫實(shí)驗(yàn)電爐、溫度控制器、升降裝置、溫度傳感器、石英玻璃杯、箱體等部件。溫度范圍 RT1000℃ （根據(jù)不同型號(hào),溫度不同）

詳細(xì)介紹

ZJD-C高頻絕緣材料介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)

ZJD-C高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由S916測(cè)試裝置（夾具）、ZJD-B/C型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入ZJD-B或ZJD-C的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。高頻絕緣介電常數(shù)測(cè)量?jī)x系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的解決方案。本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。使用ZJD-B或ZJD-C數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

ZJD-C介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)組成：

高頻絕緣介電常數(shù)測(cè)量?jī)x主機(jī)：ZJD-B/C 高頻Q表

功能名稱：	ZJD-B	ZJD-A	ZJD-C
信號(hào)源范圍DDS數(shù)字合成信號(hào)	10KHZ-70MHz	10KHZ-110MHz	100KHZ-160MHz
信號(hào)源頻率覆蓋比	7000:1	11000:1	16000:1
信號(hào)源頻率精度 6位有效數(shù)	3×10-5 ±1個(gè)字	3×10-5 ±1個(gè)字	3×10-5 ±1個(gè)字
Q測(cè)量范圍	1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程	1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程	1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程
Q分辨率	4位有效數(shù),分辨率0.1	4位有效數(shù),分辨率0.1	4位有效數(shù),分辨率0.1
Q測(cè)量工作誤差	<5%	<5%	<5%
電感測(cè)量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH	1nH-8.4H , 分辨率0.1nH	1nH-8.4H 分辨率0.1nH	1nH-140mH分辨率0.1nH
電感測(cè)量誤差	<5%	<5%	<5%
調(diào)諧電容	主電容30-540pF	主電容30-540pF	主電容17-240pF
電容直接測(cè)量范圍	1pF～2.5uF	1pF～2.5uF	1pF～25nF
調(diào)諧電容誤差分辨率	±1 pF或<1% 0.1pF	±1 pF或<1% 0.1pF	±1 pF或<1% 0.1pF
諧振點(diǎn)搜索	自動(dòng)掃描	自動(dòng)掃描	自動(dòng)掃描
Q合格預(yù)置范圍	5-1000聲光提示	5-1000聲光提示	5-1000聲光提示
Q量程切換	自動(dòng)/手動(dòng)	自動(dòng)/手動(dòng)	自動(dòng)/手動(dòng)
LCD顯示參數(shù)	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等
自身殘余電感和測(cè)試引線電感的自動(dòng)扣除功能(*)	有	有	有
大電容值直接測(cè)量顯示功能(*)	測(cè)量值可達(dá)2.5uF	測(cè)量值可達(dá)2.5uF	測(cè)量值可達(dá)25nF
介質(zhì)損耗系數(shù)	精度萬分之五	精度萬分之五	精度萬分之五

S916（數(shù)顯）或S914介電常數(shù)ε_r和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：

固體：材料測(cè)量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm （二選一）

液體：測(cè)量極片直徑 Φ38mm；液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

LKI-1電感組

電感No	電感量	準(zhǔn)確度%	Q值≥	分布電容約略值	諧振頻率范圍 MHz		適合介電常數(shù)測(cè)試頻率
電感No	電感量	準(zhǔn)確度%	Q值≥	分布電容約略值	ZJD-B	ZJC-C	適合介電常數(shù)測(cè)試頻率
1	0.1μH	±0.05μH	200	5pF	20~70	31~103	50MHz
2	0.5μH	±0.05μH	200	5pF	10~37	14.8~46.6	15MHz
3	2.5μH	±5%	200	5pF	4.6~17.4	6.8~21.4	10MHz
4	10μH	±5%	200	6pF	2.3~8.6	3.4~10.55	5MHz
5	50μH	±5%	200	6pF	1~3.75	1.5~4.55	1.5MHz
6	100μH	±5%	200	6pF	0.75~2.64	1.06~3.20	1MHz
7	1mH	±5%	150	8pF	0.23~0.84	0.34~1.02	0.5MHz
8	5mH	±5%	130	8pF	0.1~0.33	0.148~0.39	0.25MHz
9	10mH	±5%	90	8pF	0.072~0.26	0.107~0.32	0.1MHz

注意: 可定制100MHz電感.

附件在高溫下測(cè)試介電常數(shù)

在高溫下測(cè)試材料的介電常數(shù)需要有高溫測(cè)試平臺(tái),以及特殊的耐高溫測(cè)試夾具.再配合上Q表主機(jī),以完成在高溫下測(cè)試材料的介電常數(shù).

測(cè)試方法:把材料放在測(cè)試夾具的極片內(nèi)上下夾住,然后把測(cè)試夾具放在高溫測(cè)試平臺(tái)內(nèi),通過引線連接測(cè)試夾具的信號(hào)輸出段與Q表主機(jī)的電容接線柱.以此使Q表諧振,等到數(shù)據(jù).

一高溫測(cè)試平臺(tái)參數(shù)

帶升降高溫測(cè)試平臺(tái)是為高溫材料電性能測(cè)試專門設(shè)計(jì)的高溫環(huán)境。包括高溫實(shí)驗(yàn)電爐、溫度控制器、升降裝置、溫度傳感器、石英玻璃杯、箱體等部件。

溫度范圍 RT1000℃ (根據(jù)不同型號(hào),溫度不同)

探針數(shù)量 4

控溫方式恒溫、變溫、

頻率范圍DC~50MHz

二高溫測(cè)試夾具參數(shù)

精密高溫介電夾具是嚴(yán)格依據(jù)A S T M 1 5 0標(biāo)準(zhǔn)要求，并針對(duì)高溫環(huán)境進(jìn)行設(shè)計(jì)，用于精確測(cè)量材料的介電性能。由上電極調(diào)節(jié)裝置、調(diào)節(jié)支撐架、樣品平臺(tái)、隔熱層、接線盒組成

溫度范圍 RT~600℃~1000℃(根據(jù)不同型號(hào),溫度不同)

校準(zhǔn)頻率 DC~30MHz

測(cè)試電極 2個(gè)測(cè)試電極+保護(hù)電極

電極直徑 26.8mm

樣品大小厚度小于10 mm，直徑5~40mm

終端連接 4*SMA母頭

微調(diào)行程 10mm

外形尺寸 W180mmH270mmD300mm

重量 4KG

關(guān)鍵詞：絕緣材料數(shù)據(jù)采集電容器溫度控制器溫度傳感器

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高頻絕緣介電常數(shù)測(cè)量?jī)x

北京航天縱橫檢測(cè)儀器有限公司

ZJD-C高頻絕緣材料介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)

ZJD-C介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)組成：

高頻絕緣介電常數(shù)測(cè)量?jī)x主機(jī)：ZJD-B/C 高頻Q表

功能名稱：

ZJD-B

ZJD-A

ZJD-C

信號(hào)源范圍DDS數(shù)字合成信號(hào)

10KHZ-70MHz

10KHZ-110MHz

100KHZ-160MHz

信號(hào)源頻率覆蓋比

7000:1

11000:1

16000:1

信號(hào)源頻率精度 6位有效數(shù)

3×10-5 ±1個(gè)字

3×10-5 ±1個(gè)字

3×10-5 ±1個(gè)字

Q測(cè)量范圍

1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

Q分辨率

4位有效數(shù),分辨率0.1

4位有效數(shù),分辨率0.1

4位有效數(shù),分辨率0.1

Q測(cè)量工作誤差

<5%

<5%

<5%

電感測(cè)量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH

1nH-8.4H , 分辨率0.1nH

1nH-8.4H 分辨率0.1nH

1nH-140mH分辨率0.1nH

電感測(cè)量誤差

<5%

<5%

<5%

調(diào)諧電容

主電容30-540pF

主電容30-540pF

主電容17-240pF

電容直接測(cè)量范圍

1pF～2.5uF

1pF～2.5uF

1pF～25nF

調(diào)諧電容誤差

分辨率

±1 pF或<1%

0.1pF

±1 pF或<1%

0.1pF

±1 pF或<1%

0.1pF

諧振點(diǎn)搜索

自動(dòng)掃描

自動(dòng)掃描

自動(dòng)掃描

Q合格預(yù)置范圍

5-1000聲光提示

5-1000聲光提示

5-1000聲光提示

Q量程切換

自動(dòng)/手動(dòng)

自動(dòng)/手動(dòng)

自動(dòng)/手動(dòng)

LCD顯示參數(shù)

F，L，C，Q，Lt，Ct波段等

F，L，C，Q，Lt，Ct波段等

F，L，C，Q，Lt，Ct波段等

自身殘余電感和測(cè)試引線電感的自動(dòng)扣除功能(*)

有

有

有

大電容值直接測(cè)量顯示功能(*)

測(cè)量值可達(dá)2.5uF

F，L，C，Q，Lt，Ct波段等

F，L，C，Q，Lt，Ct波段等

F，L，C，Q，Lt，Ct波段等

自身殘余電感和測(cè)試引線電感的
自動(dòng)扣除功能(*)

精度萬分之五

精度萬分之五

精度萬分之五

S916（數(shù)顯）或S914介電常數(shù)ε_r和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：

固體：材料測(cè)量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm （二選一）

液體：測(cè)量極片直徑 Φ38mm；液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）