ZJD-B/ZJD-C介質(zhì)損耗測(cè)試儀電感組LKI-1：分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個(gè)電感組成.ZJD-B/ZJD-C*的諧振點(diǎn)頻率自動(dòng)搜索或電容自動(dòng)搜索功能，能幫助你在使用時(shí)快速地找到被測(cè)量器件的諧振點(diǎn)。

詳細(xì)介紹

機(jī)臺(tái)型號(hào)：ZJD-C、ZJD-B型介質(zhì)損耗測(cè)試儀

一、概述：
ZJD-C、ZJD-B型介質(zhì)損耗測(cè)試儀是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測(cè)定介質(zhì)損耗角正切 tanδ 及介電常數(shù)（ε ），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

二、測(cè)試原理：
采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q 值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q 表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測(cè)量值更為精確。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q 值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。
本測(cè)試裝置是由二只測(cè)微電容器組成，平板電容器一般用來夾持被測(cè)樣品，園筒電容器是一只分辨率高達(dá) 0.0033pF 的線性可變電容器，配用儀器作為指示儀器，絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q 值變化，由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時(shí)，由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)。

三、主要技術(shù)特性：

*1.信號(hào)源: DDS數(shù)字合成信號(hào) 100KHZ-160MHZ

*2.信號(hào)源頻率精度3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)

3．Q值測(cè)量范圍：1～1023

4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；

*5．電感測(cè)量范圍：1nH～140mH 自身殘余電感和測(cè)試引線電感的自動(dòng)扣除功能

*6．電容直接測(cè)量范圍：1pF～25nF

7．主電容調(diào)節(jié)范圍： 17～240pF

8．準(zhǔn)確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%

9．信號(hào)源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz

10．合格指示預(yù)置功能范圍：5～1000

11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13. S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：

數(shù)顯式微桿，平板電容器：

極片尺寸： 38mm

極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

夾具插頭間距：25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

測(cè)微桿分辨率：0.001mm

測(cè)試極片：材料測(cè)量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm

*液體杯：測(cè)量極片直徑 Φ38mm；液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm

14. 電感組LKI-1：

分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個(gè)電感組成。

S916數(shù)顯介質(zhì)損耗測(cè)試裝置與ZJD-B/ZJD-C

配合使用補(bǔ)充說明

因ZJD-B/ZJD-C型Q表xin增加了介質(zhì)損耗系數(shù)tgδ的測(cè)試功能，特

增加此S916數(shù)顯介質(zhì)損耗測(cè)試裝置與ZJD-B/ZJD-C配合使用補(bǔ)充說明。ZJD-B/ZJD-C型Q表的介質(zhì)損耗系數(shù)tgδ的測(cè)試功能省去了人工的計(jì)算，將大大地方便介質(zhì)損耗系數(shù)tgδ的測(cè)試。有關(guān)S916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置的使用可參閱S916數(shù)顯介質(zhì)損耗測(cè)試裝置使用說明。

使用方法：

a. 把被測(cè)樣品插入二極片之間，調(diào)節(jié)平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測(cè)微桿，以免夾得過緊或過松）。然后取出平板電容器中的樣品，

但要保持平板電容器間的間距不變。

b. 改變Q表上的主調(diào)電容容量，使Q表處于諧振點(diǎn)上；電容讀數(shù)記為C1。

c. 然后取下測(cè)試裝置，再改變Q表上的主調(diào)電容容量，重新使之諧振，電容讀數(shù)記為C3，此時(shí)可計(jì)算得到測(cè)試裝置的電容為CZ = C3 －C1

4．介質(zhì)損耗系數(shù)的測(cè)試

a. 重新把測(cè)試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端上。

把被測(cè)樣品插入二極片之間，改變Q表上的主調(diào)電容容量，使Q表處于諧振點(diǎn)上。然后按一次 Q表上的小數(shù)點(diǎn)（tgδ）鍵，在顯示屏上原電感顯示位置上將

顯示C0= x x x，此時(shí)可輸入分布電容值。分布電容為機(jī)構(gòu)電容CZ和電感分布電容C0（參考電感的技術(shù)說明）的和。分布電容值輸入的有效位為3位，0.1pF至99.9 pF，輸入時(shí)不需輸入小數(shù)點(diǎn)，只需輸入3位有效數(shù)。例0.1pF，只需輸入

001；99.9pF，只需輸入999。

同時(shí)，顯示屏上原C和Q顯示變化為C2和Q2。

b．取出平板電容器中的樣品，（保持平板電容器間的間距不變）這時(shí)Q表又失諧，再改變Q表上的主調(diào)電容容量，使Q表重新處于諧振點(diǎn)上。

c. 第二次按下 Q表上的小數(shù)點(diǎn)（tgδ）鍵，顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1，同時(shí)顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =．x x x x x ，即完成測(cè)試。

5.出錯(cuò)提示，當(dāng)出現(xiàn)tn = NO 顯示時(shí)，說明測(cè)試時(shí)出現(xiàn)了差錯(cuò)，發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯(cuò)誤情況。

北京航天縱橫檢測(cè)儀器有限公司

注： S914介質(zhì)損耗測(cè)試裝置也可參照S916數(shù)顯介質(zhì)損耗測(cè)試裝置與ZJD-B/ZJD-C配合使用，使用時(shí)把S914的圓桶電容器置于一個(gè)固定位置。

ZJD-B介電常數(shù)和ZJD-C介電常數(shù)主要區(qū)別

ZJD-B/ZJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。

ZJD-B/ZJD-C介電常數(shù)是北京航天縱橫檢測(cè)儀器有限公司zui

新研制的產(chǎn)品，它以DDS數(shù)字直接合成方式產(chǎn)生信號(hào)源，頻率達(dá)

60MHz /160MHz，信號(hào)源具有信號(hào)失真小、頻率精確、信號(hào)幅度穩(wěn)定的優(yōu)點(diǎn)，更保證了測(cè)量精度的精確性。ZJD-B主電容調(diào)節(jié)用傳感器感應(yīng)，電容讀數(shù)精確,且頻率值可設(shè)置。ZJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀主電容調(diào)節(jié)用

步進(jìn)馬達(dá)控制，電容讀數(shù)更加精確,頻率值和電容值均可設(shè)置。ZJD-B/ZJD-C電容、電感、Q值、頻率、量程都用數(shù)字顯示，在某一頻率下，只要能找到諧振點(diǎn)，都能直接讀出電感、電容值，大大擴(kuò)展了電感的測(cè)量范圍，而不再是固定的幾個(gè)頻率下才能測(cè)出電感值的大小。ZJD-B/ZJD-C*的諧振點(diǎn)頻率自動(dòng)搜索或電容自動(dòng)搜索功能，能幫助你在使用時(shí)快速地找到被測(cè)量器件的諧振點(diǎn)，自動(dòng)讀出Q值和其它參數(shù)。Q值量程可手動(dòng)或自動(dòng)轉(zhuǎn)換。

二、工作特性：

1．Q值測(cè)量

a．Q值測(cè)量范圍：2～1023；

b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；

c．標(biāo)稱誤差

2．電感測(cè)量范圍

3．電容測(cè)量

注：大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見使用方法。

4．信號(hào)源頻率覆蓋范圍

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介質(zhì)損耗測(cè)試儀

北京航天縱橫檢測(cè)儀器有限公司

機(jī)臺(tái)型號(hào)：ZJD-C、ZJD-B型 介質(zhì)損耗測(cè)試儀

三、主要技術(shù)特性：

*1.信號(hào)源: DDS數(shù)字合成信號(hào) 100KHZ-160MHZ

*2.信號(hào)源頻率精度3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)

3．Q值測(cè)量范圍：1～1023

4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；

*5．電感測(cè)量范圍：1nH～140mH 自身殘余電感和測(cè)試引線電感的自動(dòng)扣除功能

*6．電容直接測(cè)量范圍：1pF～25nF

7．主電容調(diào)節(jié)范圍： 17～240pF

8．準(zhǔn)確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%

9．信號(hào)源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz

10．合格指示預(yù)置功能范圍：5～1000

11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13. S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：

數(shù)顯式微桿，平板電容器：

極片尺寸： 38mm

極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

夾具插頭間距：25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

測(cè)微桿分辨率：0.001mm

測(cè)試極片：材料測(cè)量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm

*液體杯：測(cè)量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm

14. 電感組LKI-1：

分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個(gè)電感組成。

S916數(shù)顯介質(zhì)損耗測(cè)試裝置與ZJD-B/ZJD-C

配合使用補(bǔ)充說明

因ZJD-B/ZJD-C型Q表xin增加了介質(zhì)損耗系數(shù)tgδ的測(cè)試功能，特

使用方法：

把S916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。

在電感端子上插上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時(shí)電感取250uH，15MHz時(shí)電感取1.5uH。

先測(cè)出損耗測(cè)試裝置在測(cè)試狀態(tài)下的機(jī)構(gòu)電容CZ

a. 把被測(cè)樣品插入二極片之間，調(diào)節(jié)平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測(cè)微桿，以免夾得過緊或過松）。然后取出平板電容器中的樣品，

但要保持平板電容器間的間距不變。

b. 改變Q表上的主調(diào)電容容量，使Q表處于諧振點(diǎn)上；電容讀數(shù)記為C1。

c. 然后取下測(cè)試裝置，再改變Q表上的主調(diào)電容容量，重新使之諧振，電容讀數(shù)記為C3，此時(shí)可計(jì)算得到測(cè)試裝置的電容為CZ = C3 －C1

4．介質(zhì)損耗系數(shù)的測(cè)試

a. 重新把測(cè)試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端上。

把被測(cè)樣品插入二極片之間，改變Q表上的主調(diào)電容容量，使Q表處于諧振點(diǎn)上。然后按一次 Q表上的小數(shù)點(diǎn)（tgδ）鍵，在顯示屏上原電感顯示位置上將

001；99.9pF，只需輸入999。

同時(shí)，顯示屏上原C和Q顯示變化為C2和Q2。

b．取出平板電容器中的樣品，（保持平板電容器間的間距不變）這時(shí)Q表又失諧，再改變Q表上的主調(diào)電容容量，使Q表重新處于諧振點(diǎn)上。

c. 第二次按下 Q表上的小數(shù)點(diǎn)（tgδ）鍵，顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1，同時(shí)顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =．x x x x x ，即完成測(cè)試。

5.出錯(cuò)提示，當(dāng)出現(xiàn)tn = NO 顯示時(shí)，說明測(cè)試時(shí)出現(xiàn)了差錯(cuò)，發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯(cuò)誤情況。

北京航天縱橫檢測(cè)儀器有限公司

注： S914介質(zhì)損耗測(cè)試裝置也可參照S916數(shù)顯介質(zhì)損耗測(cè)試裝置與ZJD-B/ZJD-C配合使用 ，使用時(shí)把S914的圓桶電容器置于一個(gè)固定位置。

ZJD-B介電常數(shù)和ZJD-C介電常數(shù)主要區(qū)別

ZJD-B

ZJD-C

測(cè)試頻率范圍

10kHz～70MHz

100kHz～160MHz

主調(diào)電容控制

傳感器

步進(jìn)馬達(dá)

電容搜索

無

有

ZJD-B/ZJD-C介電常數(shù)是北京航天縱橫檢測(cè)儀器有限公司zui

新研制的產(chǎn)品，它以DDS數(shù)字直接合成方式產(chǎn)生信號(hào)源，頻率達(dá)

二、工作特性：

1．Q值測(cè)量

a．Q值測(cè)量范圍：2～1023；

b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；

c．標(biāo)稱誤差

ZJD-B

ZJD-C

頻率范圍

10kHz～10MHz

100kHz～10MHz

固有誤差

≤5％±滿度值的2%

≤5％±滿度值的2%

工作誤差

≤7％±滿度值的2%

≤7％±滿度值的2%

頻率范圍

機(jī)臺(tái)型號(hào)：ZJD-C、ZJD-B型介質(zhì)損耗測(cè)試儀

三、主要技術(shù)特性：

4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；

8．準(zhǔn)確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%

12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

數(shù)顯式微桿，平板電容器：

*液體杯：測(cè)量極片直徑 Φ38mm；液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm

分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個(gè)電感組成。

因ZJD-B/ZJD-C型Q表xin增加了介質(zhì)損耗系數(shù)tgδ的測(cè)試功能，特

把S916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。

在電感端子上插上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時(shí)電感取250uH，15MHz時(shí)電感取1.5uH。

a. 把被測(cè)樣品插入二極片之間，調(diào)節(jié)平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測(cè)微桿，以免夾得過緊或過松）。然后取出平板電容器中的樣品，

但要保持平板電容器間的間距不變。

b. 改變Q表上的主調(diào)電容容量，使Q表處于諧振點(diǎn)上；電容讀數(shù)記為C1。

c. 然后取下測(cè)試裝置，再改變Q表上的主調(diào)電容容量，重新使之諧振，電容讀數(shù)記為C3，此時(shí)可計(jì)算得到測(cè)試裝置的電容為CZ = C3 －C1

a. 重新把測(cè)試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端上。

把被測(cè)樣品插入二極片之間，改變Q表上的主調(diào)電容容量，使Q表處于諧振點(diǎn)上。然后按一次 Q表上的小數(shù)點(diǎn)（tgδ）鍵，在顯示屏上原電感顯示位置上將

001；99.9pF，只需輸入999。

同時(shí)，顯示屏上原C和Q顯示變化為C2和Q2。

b．取出平板電容器中的樣品，（保持平板電容器間的間距不變）這時(shí)Q表又失諧，再改變Q表上的主調(diào)電容容量，使Q表重新處于諧振點(diǎn)上。

c. 第二次按下 Q表上的小數(shù)點(diǎn)（tgδ）鍵，顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1，同時(shí)顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =．x x x x x ，即完成測(cè)試。

5.出錯(cuò)提示，當(dāng)出現(xiàn)tn = NO 顯示時(shí)，說明測(cè)試時(shí)出現(xiàn)了差錯(cuò)，發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯(cuò)誤情況。

注： S914介質(zhì)損耗測(cè)試裝置也可參照S916數(shù)顯介質(zhì)損耗測(cè)試裝置與ZJD-B/ZJD-C配合使用，使用時(shí)把S914的圓桶電容器置于一個(gè)固定位置。

新研制的產(chǎn)品，它以DDS數(shù)字直接合成方式產(chǎn)生信號(hào)源，頻率達(dá)

二、工作特性：

a．Q值測(cè)量范圍：2～1023；

b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；

150pF以下±1pF；

a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

a．消耗功率：約25W；

b．凈重：約7kg；

c. 外型尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280。