涂建
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
220V微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀,新一代的高速DSP數(shù)字信號(hào)處理器為核心、采用雙公12位的DAC、應(yīng)用全保真高性能線性放大器、輸出精度高和波形好,性能穩(wěn)定。可方便對(duì)備自投裝置和微機(jī)差動(dòng)保護(hù)裝置進(jìn)行試驗(yàn)、針對(duì)性各類繼電器校驗(yàn)程序,強(qiáng)大的功能測(cè)試軟件更能提供多種校驗(yàn)和搜索方式的成套微機(jī)保護(hù)和自動(dòng)裝置的自動(dòng)試驗(yàn)程序:線路保護(hù)、差動(dòng)保護(hù)、阻抗保護(hù)、低周、同期、備自投等。各類故障模擬程序,能真實(shí)模擬和回放現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際的各類故障、暫態(tài)過(guò)程、系統(tǒng)振蕩、重合閘動(dòng)作行為。
產(chǎn)品特性:
1.滿足現(xiàn)場(chǎng)所有試驗(yàn)要求。具有標(biāo)準(zhǔn)的四相電壓,三相電流輸出,電壓125V/相,電流30A/相。三相并聯(lián)可達(dá)90A。既可對(duì)傳統(tǒng)的各種繼電器及保護(hù)裝置進(jìn)行試驗(yàn),也可對(duì)現(xiàn)代各種微機(jī)保護(hù)進(jìn)行各種試驗(yàn),特別是對(duì)變壓器差功保護(hù)和備自投裝置,試驗(yàn)更加方便和*。
2.220V微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀各種技術(shù)指標(biāo)*達(dá)到電力部頒發(fā)的DL/T624-1997 《繼電保護(hù)微機(jī)型試驗(yàn)裝置技術(shù)條件》的標(biāo)準(zhǔn)。
4.采用進(jìn)口拉絲不銹鋼面板,不銹鋼鍵盤(pán),同時(shí)采用觸摸式鼠標(biāo),克服了軌跡球鼠標(biāo)操作不靈活、容易損壞的缺點(diǎn),并選用8.4寸,分辨率為800*600的TFT真彩顯示屏,使得單機(jī)整體操作方便自如,經(jīng)久耐用.
5.主控板采用DSP+FPGA結(jié)構(gòu),16位DAC輸出,對(duì)基波可產(chǎn)生每用2000點(diǎn)的高密度正弦波,大大改善了波形的質(zhì)量,提高了測(cè)試儀的精度.
6.電流、電壓采用高性能線性放大器直接耦合輸出方式,使電流,電壓源可直接輸出交流和直流波形,并可通過(guò)軟件計(jì)算輸出各種如方波、各次諧波疊加的組合波形,故障暫態(tài)波形等,可以較好地模擬各種短路故障時(shí)的電流,電壓特征。功放電路采用進(jìn)口大功率高保真模塊式功率器件做功率輸出級(jí),結(jié)合精心合理設(shè)計(jì)的散熱結(jié)構(gòu),具有足夠大的功率冗余和熱容量,功放電路具有完備的過(guò)熱、過(guò)流、過(guò)壓及短路保護(hù),電流回路允許開(kāi)路,不會(huì)損壞裝置。
工作原理:
微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀廠家儀器分為主回路和輔回路兩個(gè)回路,主回路采用大旋鈕調(diào)節(jié),輔回路采用小旋鈕調(diào)節(jié),主回路通過(guò)面板上“輸出選擇”按鍵開(kāi)關(guān)控制其輸出的各種量,并且每切換一種輸出的同時(shí),儀器上的數(shù)字電壓/電流表可自動(dòng)監(jiān)視其輸出值。輔回路通過(guò)輸出開(kāi)關(guān)控制直接調(diào)節(jié)輸出,測(cè)量可外附萬(wàn)用表測(cè)量。
產(chǎn)品用途:
1.二次調(diào)度中所有單個(gè)元件的測(cè)試(電流、電壓、時(shí)間、差動(dòng)、平衡、負(fù)序、距 離、功率方向、反時(shí)限、頻率、同期、重合閘等繼電器)。
2.整組傳動(dòng),能摸擬各種簡(jiǎn)單或復(fù)雜的瞬時(shí)性,*性,轉(zhuǎn)換性故障,可在基 波上疊加暫態(tài)直流分量。
3.能隨意疊加各次諧波,疊加初始角及含量在線可控。
4. 可分相輸出不同頻率交流量、交直流兩用。
5. 低周單元,可方便測(cè)試微機(jī)低周低壓減載保護(hù)。
6.各種保護(hù)時(shí)間特性的自動(dòng)掃描。功率及阻抗保護(hù)特性曲線的掃描。
7.微機(jī)主變保護(hù)差動(dòng)比例及諧波制動(dòng)特性的自動(dòng)測(cè)試。
8.整組距離、零序、過(guò)流保護(hù)自動(dòng)測(cè)試。
9.用戶可編程測(cè)試單元,以滿足特殊試驗(yàn)用途,例備自投裝置的測(cè)試。