溫度沖擊試驗箱（三箱）能夠模擬溫度連續(xù)性急劇變化的大氣環(huán)境，主要用來測試式樣對在擬定環(huán)境作用下引起的化學(xué)變化或物理傷害的適應(yīng)性和承受能力?？梢酝ㄟ^此試驗，提高產(chǎn)品的可靠性，進(jìn)行質(zhì)量控制。廣泛應(yīng)用于國防、電工電子、儀器儀表、信息通訊、材料設(shè)備、汽車配件等領(lǐng)域。根據(jù)待測式樣的特殊性，可分為兩箱式動態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊。

二、產(chǎn)品特點：

• 三箱式結(jié)構(gòu)保證式樣能夠快速切換，提高溫度均勻性，減少熱量損失；
• 提籃采用氣動控制，切換時間短，速度快；
• 觸摸屏控制，外觀簡潔大方，界面友好，操作方便；
• 大視窗設(shè)計，真空雙層玻璃，加熱無霧氣；
• 冷凍和加熱系統(tǒng)的節(jié)能設(shè)計可保證恢復(fù)時間，同時降低了使用成本；
• 具備高檔萬向滾輪，移動方便。

三、滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008（IEC60068-2-1） 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫試驗
GB/T2423.2-2008（IEC60068-2-2） 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B：高溫試驗
GB/T2423.22-2002 （IEC60068-2-14） 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化試驗
GB/T5170.2-2008 環(huán)境試驗設(shè)備檢定方法標(biāo)準(zhǔn) 溫度試驗設(shè)備
GJB150.3A-2009（MIL-STD-810D） 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB150.4A-2009（MIL-STD-810D） 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗
GJB150.5-1986（MIL-STD-810D） 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第5部分：溫度沖擊試驗
GJB360.8（MIL-STD-202F） 高溫壽命試驗方法

四、技術(shù)規(guī)格參數(shù)：

*1 以上數(shù)據(jù)是在環(huán)境溫度23℃，空載條件測得；
*2 冷卻方式如選用水冷，請事先提出；
*3 包括吊籃氣缸高度。
 

五、訂購信息：

溫度沖擊試驗箱（三箱）

四、技術(shù)規(guī)格參數(shù)：

*1 以上數(shù)據(jù)是在環(huán)境溫度23℃，空載條件測得；
*2 冷卻方式如選用水冷，請事先提出；
*3 包括吊籃氣缸高度。
 

五、訂購信息：