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CSK-IIIA型CSK-IIIA型超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊

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產(chǎn)品型號(hào)CSK-IIIA型

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更新時(shí)間：2018-05-16 14:51:29瀏覽次數(shù)：597次

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杭州高品電子科技有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

.游標(biāo)卡尺,2.千分尺3.微孔測(cè)量?jī)x,4.三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,5.超聲波探傷儀,6.平底孔硅橡膠覆膜檢驗(yàn),7.*金相顯微鏡,8.樣板平尺,9.粗糙度儀.

詳細(xì)介紹

CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊

型號(hào):CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱尺寸:（mm）300×150×30
行位公差（國(guó)標(biāo)）:±0.10×0.05×0.05
（⊥）: ⊥＜0.05
（∥） :∥＜0.03
（Ra）: Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10

試塊檢測(cè)報(bào)告:

超聲波探傷
檢測(cè)儀器	CTS-26	探頭	2.5P直徑20
檢測(cè)部位	平面	耦合劑	機(jī)油
增益	80%	抑制	關(guān)
衰減	42db
探傷結(jié)果	材質(zhì)均勻,無雜質(zhì),無影響使用缺陷.
試塊材質(zhì)符合GB/T699-1999（優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼）標(biāo)準(zhǔn)要求.
金相分析:晶粒度7-8級(jí)