rohs檢測儀有美國xos生產
符合規(guī)則要求已成為各地制造商很大的投資項目。XOS 能讓客戶放心地提交滿足下列要求的文件:
- CPSIA (ASTM F2853 和 F2617),
- ASTM F963,
- RoHS,
- EN 71, 和
- 很多其他標準,由不同州、區(qū)域、國家或貿易區(qū)實施的規(guī)則
高清晰x射線熒光rohs檢測儀是xrf行業(yè)的新一代技術。
傳統(tǒng) XRF 是定性與定量分析材料中各種元素的強大工具,而 HDXRF由于其極低的檢測極限,特別適用于有著嚴苛要求的有毒元素分析,如對兒童用品、服裝、珠寶、電子產品和其他消費品中低含量有毒元素檢測。
定量分析消費品中重金屬元素時,傳統(tǒng) XRF 與 HDXRF 技術有什么不同?
傳統(tǒng) XRF 面臨如下挑戰(zhàn):
測量結果是涂層和基材的平均值
無法測出低濃度鉛,即便在基材中也不能
由于束斑較大,測出的結果是各不同微小特性和材料的平均值
表面涂層結果為單位面積質量,而非 CPSIA 要求的百萬分率 (ppm)
HDXRF 如何解決?
HDXRF 技術旨在通過獲得的 DCC 透鏡提升測量水平和精準度
消除散射背景,從而大幅度提升元素檢測下限
能分別測出涂層和基材中的有毒元素濃度
多個 DCC 透鏡形成一個聚焦強光束 – 1mm 分析區(qū)域
HDXRF分析儀檢測符合CPSIA法規(guī)(SGS儀器,美國海關認可檢測數(shù)據(jù))
HDXRF 技術能迅速、準確檢測鉛和其他潛在有毒元素,這是傳統(tǒng) XRF 所不能企及的。這種技術是CPSIA 批準的檢測方法,符合ASTM F2853-10規(guī)則,為完成多種元素的測試項目做好了鋪墊。
HDXRF 分析儀具備如下特性:
多種元素檢測,符合 ASTM F2853-10 規(guī)定,是 CPSIA 批準的對基材和涂層中鉛元素的定量分析方法
檢測下限遠低于 CPSIA 規(guī)定的限值,用戶不要擔心結果不準導致超標
1 mm 小面積分析,用于檢測微小特性和不規(guī)則形狀樣品(其他任何品牌做不到)
對涂層和基材可同步檢測也可分開檢測
快速、精準的定性篩檢,可節(jié)省時間進行更多檢測
和“濕化學”法有相同的靈敏度和精準度,但不會損壞產品
具備多種功能,能夠滿足整個供應鏈上各個環(huán)節(jié)的需求,包括制造商、倉庫和零售
應用領域:
檢測下限遠低于 CPSIA 規(guī)定的限值,用戶不要擔心結果不準導致超標
玩具中的鉛檢測
珠寶首飾中的鎘和鉛檢測
稀有貴重金屬檢測
服裝檢測
QA/QC 制造商質量檢測
高清晰HDXRf分析儀檢測符合歐盟ROHS規(guī)則(SGS選用儀器)
銷往歐洲 (EU) 的電子產品,必須提交符合歐洲危害物質禁用指令 (RoHS) 規(guī)則的文件。
RoHS 規(guī)則要求電氣和電子產品或部件中重金屬鉛、鎘、水銀、六價鉻、多溴化聯(lián)苯 (PBBs) 或多溴聯(lián)苯醚 (PBDEs) 的含量必須控制在規(guī)定限值之內。根據(jù) RoHS 而制定的標準在不斷增多。
HDXRF 技術遠遠勝過傳統(tǒng) XRF 技術,由于其檢測極限遠低于RoHS限定的標準,特別適用于進行需要符合RoHS標準的檢測。
此外,HDXRF 分析儀還提供 1mm 分析區(qū)域,便于檢測微小和不規(guī)則形狀樣品
應用領域:
HDXRF® 針對 RoHS 規(guī)定元素的檢測下限 (LOD)
蘇州實譜信息科技有限公司(蘇州尚譜環(huán)境儀器有限公司)與美國丹納赫旗下XOS公司精誠合作,致力于HDXRF分析技術的推廣和應用,公司推出符合歐盟ROHS法規(guī)和美國CPSIA法案的新一代XRF分析儀。XOS公司是科學儀器丹納赫的子公司,元素分析設備和關鍵性應用材料生產商,擁有的X射線光學技術DCC®,針對不同的客戶和應用提供特定的元素分析解決方案。XOS作為分析儀器生產商的技術供應商(OEM),能夠為儀器生產商提供X射線光學技術和子系統(tǒng),加強X射線分析儀器的分析性能。
- 檢測涂層和顏料中的鉛和鎘
- 定性篩檢PVC(乙烯基)線纜包括電源線和 USB 接線,
- 檢測焊料中的鉛
- 檢測印刷電路板和連接線
- 檢測玻璃
- 檢測金屬部件