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天津容大檢測(cè)
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天津容大檢測(cè)
| 參 考 價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2022-04-17 10:29:11瀏覽次數(shù)：263次
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微觀形貌分析
 | 項(xiàng)目名稱 | |
| 檢測(cè)目的 | 觀察微觀區(qū)域的形貌 | |
| 檢測(cè)范圍 | 電子元器件、汽車電子 、醫(yī)療、通訊、手機(jī)、 電腦、電氣等 |
| 微觀形貌分析項(xiàng)目簡(jiǎn)介 |
按照具體檢測(cè)要求，通過(guò)光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡對(duì)樣品的表面、斷口及其它關(guān)注截面進(jìn)行高倍觀察。比如表面形貌、斷口形貌、、微觀層狀結(jié)構(gòu)等需要進(jìn)行高倍觀察的檢測(cè)項(xiàng)目。
通常光學(xué)顯微鏡的觀察倍數(shù)為1000倍，檢測(cè)面必須平整；掃描電鏡對(duì)平整度要求不高，形貌也能觀察，需要樣品具有導(dǎo)電性，一般的掃面電鏡可清晰觀測(cè)的倍數(shù)為5000~20000倍不等（具體看樣品的導(dǎo)電性，以及氣體殘余情況）。場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的可清晰觀測(cè)的倍數(shù)在10萬(wàn)倍以上。
| 微觀形貌分析試驗(yàn)方法和標(biāo)準(zhǔn) |
光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡（SEM）
| 微觀形貌分析試驗(yàn)圖片 |
| 容大檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室 |
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